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Abaqus 中的接触是如何计算的?

7月前浏览1144


本文摘要:(由ai生成)

 本文讨论了有限元分析中接触算法的重要性和Abaqus/Standard求解器的应用。接触问题在工程应用中至关重要,能够准确模拟载荷传递机制和预测磨损模式。文章解释了非线性问题的求解过程,包括材料、几何和接触非线性的处理。重点介绍了Abaqus/Standard中接触算法的工作原理,包括主面和从面的定义、接触状态的检查、以及牛顿-拉夫森迭代求解技术。强调了监控严重不连续迭代和平衡迭代的重要性,以评估求解器的收敛情况。通过理解接触算法,可以更有效地调试模型,确保分析的稳定性和收敛性。

      在解决工程应用中多个物体的力学问题时,接触是一个非常重要的方面。它准确地代表了现实世界场景中不同组件如何相互作用。在有限元分析模型中添加接触将有助于我们捕获准确的载荷传递机制,这将确保每个组件承载其指定的载荷份额而不会过载,从而避免潜在的故障风险。它还使我们能够预测机械系统运行期间的磨损模式,这将有助于评估组件的寿命。


Abaqus/Standard求解器算法


        在Standard分析中,非线性问题的解决方案是通过逐渐向系统施加载荷和边界并逐步寻找最终解来获得的。因此,问题被分解为多个载荷增量,并在每个增量结束时获得近似平衡解。如果残余力在设定的公差范围内,那么我们就获得了收敛解。如果尝试的增量(考虑从 0 到 100 的负载百分比)太大并且残余力不在容差范围内,则解不会收敛。在这种情况下,使用新的较小增量并重复求解过程。如下图所示,线性载荷增加可以用一个增量来求解 - 但当力变得非线性时,需要更小的增量才能获得收敛解。选择增量大小,使得负载变化在该周期内几乎是线性的。在Standard分析中,当前时间步长 (tn) 中的未知量是根据下一个时间步长 (tn+1) 中的斜率计算的。由于连续步骤变量之间的这种依赖性,在每个增量中都会获得一组方程。我们使用Newton-Raphson等数值方法来求解方程组。



        模型中出现非线性的原因有 3 个:材料、几何(大变形理论)和接触。有关每种非线性类型的更多信息,请参阅之前的文章。在本文中,我们将讨论接触算法如何与 Newton-Raphson 求解器配合使用,以及如何克服接触模型中收敛问题的一些基本根源。


Abaqus/Standard 标准接触算法


        添加接触会在有限元问题中引入非线性,并且计算成本可能非常高,因为它会导致接触相互作用的刚度变化。调试接触问题可能是一项非常具有挑战性的任务。但是,当尝试理解消息文件中的诊断输出时,理解解决接触问题背后的算法 会很有帮助。


        我们使用两个表面来定义接触:主面和从面。主面上的节点可以穿透从面,但从面上的节点不能穿透主面。由于这一公式,必须仔细选择主表面和从面,以便从接触问题中获得最佳结果。与主相比,从面上的网格更细将减少主节点的渗透。当主表面和从面的网格密度相似时,为从面选择较软的材料将是有益的,因为它会更容易变形而贴合主面的形状。



        当主面在施加载荷期间与从面相互作用时,必须解决从面节点渗透到主面中的问题,并且必须量化接触压力。这是根据下图所示的算法完成的。



        该接触算法是围绕Newton-Raphson技术构建的,用于解决Standard问题。对于每个负载/时间增量,必须解决接触问题。因此,该算法将在每次增量时激活一次。流程图中的“P”表示接触节点处的接触压力,“h”表示辅助节点进入主表面的渗透量。在时间增量开始时,检查所有接触节点的状态以确定它们是关闭还是打开。

接触面闭合

        这意味着主面和从面上的节点彼此接触。它们之间没有间隙,必须计算法向接触力和摩擦力。当节点关闭时,我们必须确定它是粘着还是滑动。

接触面开放

        这表明主面节点和从面节点之间存在间隙,不存在接触力。根据分析设置,开放节点可能允许表面之间的穿透或相对运动。

解决接触问题

        约束条件应用于所有闭合节点,并且在所有开放节点处移除约束。现在,进行迭代以更新该状态下的模型配置。此时,在从节点再次检查接触状态。新配置中任何具有负间隙或零间隙的节点都会更新为关闭。具有负接触压力的节点从关闭更新为打开。当在此迭代阶段检测到接触变化时,该迭代被称为“严重不连续迭代”,并且不会为此迭代执行力和力矩平衡检查。


        更新开闭节点后,进行下一次迭代。重复此过程,直到迭代完成且接触状态没有变化。该迭代被称为第一次“平衡迭代”。在此迭代中,执行力和力矩平衡检查。如果该收敛检查通过,则求解器将继续求解下一个增量。如果收敛检查失败,求解器将继续执行另一次迭代。如果收敛速度太慢,则停止该增量并考虑更小的时间增量。


监控接触行为


        注意每个增量步中发生的严重不连续和平衡迭代的数量非常重要。增量中更严重的不连续性迭代和更少的平衡迭代意味着求解器难以确定适当的接触条件。如果存在太多严重不连续性迭代(>12),则减小时间增量大小以找到收敛解。当不存在严重的不连续迭代时,这意味着接触状态在增量之间没有变化。更多的平衡迭代和更少的严重不连续性迭代通常表明分析是稳定的。求解器有效地平衡模型中的力和力矩,同时最大限度地减少解决方案中的不稳定性。

结论

        希望本文对使用Standard求解器解决接触问题的算法提供了更深入的见解。接触算法采用牛顿-拉夫森技术。了解该算法将有助于我们通过查明模型中的问题区域来调试接触问题。消息文件中更多的平衡迭代和更少的严重不连续性迭代表明分析正在顺利、稳定地收敛到解决方案。





来源:ABAQUS仿真世界
Abaqus非线性理论材料
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2024-05-26
最近编辑:7月前
yunduan082
硕士 | 仿真主任工程... Abaqus仿真世界
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《Mechanics of Solid Polymers》2.4.2-4.3 扫描电子显微镜

摘要本文介绍了扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)两种表面表征技术。SEM以高分辨率成像和三维效果著称,常用于导电样品的表面分析,而环境扫描电子显微镜(ESEM)则可在自然状态下观察样品。AFM通过测量悬臂梁偏转获取表面信息,无需特殊处理或真空环境,适用于生物样品成像。两者各有优势,SEM适用于大尺度分析,而AFM则提供真实的三维表面轮廓。文章还提供了SEM和AFM的示例图像和工作原理说明。正文2.4.2扫描电子显微镜扫描电子显微镜(SEM)是当今使用的最重要的表面表征技术之一。SEM的主要优点之一是其很大的景深。此外,SEM设备通常与能谱仪(EDS)X射线衍射(见2.6.2节)相结合,从而实现对表面的高放大率表征和元素组成分析。扫描电子显微镜使用电子而不是光来形成图像。这使得景深更大,从而允许样品的更大部分在同一时间内处于焦点状态。SEM还产生高分辨率的图像。样品的制备相对容易,因为大多数SEM只需要样品具有导电性。对于聚合物,可以通过对样品进行金属镀覆来实现这一点。更高的放大率、更大的焦点深度、更高的分辨率以及样品观察的便利性的结合,使SEM成为实验材料表征中最常用的仪器之一。在典型的SEM装置中,电子从阴极丝向阳极发射。电子束的能量通常在几keV到50keV之间,由凝聚镜将电子束聚焦成非常小的斑点(约为5nm)。电子束然后通过目镜和扫描线圈,以期望的模式在样品表面上进行偏转。当初级电子达到表面时,它们与样品中的原子进行非弹性散射。这些散射事件导致主束扩展并产生电子和X射线的发射,然后被检测并用于生成表面图像。在最常见的成像模式中,通过闪烁体—光倍增器组件检测低能次级电子,并使用结果信号创建样品的图像。由于次级电子来自于距离表面不到1nm的地方,因此信号的亮度取决于暴露在初级电子束下的表面积。对于平坦表面,这个表面积相对较小,但对于陡峭表面,这个表面积增加。因此,陡峭表面和边缘(悬崖)往往比平坦表面更亮,产生具有良好的三维对比度的图像。使用这种技术,可以达到约5nm的分辨率。操作SEM的另一种模式是检测背散射电子,这些电子基本上是弹性散射的初级电子。背散射电子可以用来检测拓扑和成分细节,尽管由于它们的能量远高于次级电子(大约与初级束相同),这些电子可能从样品内部散射得相当深。这导致与次级电子的情况相比,拓扑对比度较低。然而,背散射的概率是原子序数的弱函数,因此在不同化学成分的区域之间仍然可以观察到一些对比度,尤其是当不同区域的平均原子序数非常不同时。SEM的空间分辨率由电子束的斑点大小和与电子束相互作用的材料大小控制。由于这些都大于相互作用距离,因此不可能成像原子尺度的图像。一种新的表面表征技术是环境扫描电子显微镜(ESEM)。这种方法在受控环境条件下工作,不需要对样品进行导电涂层。这使得可以研究样品的自然状态。ESEM的环境可以选择水蒸气、空气、氮气、氩气、氧气等。使用ESEM可以进行湿润、干燥、吸收、熔化、腐蚀和结晶等动态特性的表征。ESEM能够在一定压力下工作,并且不会产生表面电荷,因为二次电子探测器是根据气体电离原理设计的。当从枪系统发射的初级电子时,样品表面的二次电子被加速到探测器,该探测器由一个适度的电场偏置。电子与气体分子之间的碰撞释放出更多的自由电子,从而提供更多的信号。气体中产生的正离子有效中和了样品上积累的多余电子电荷。图2.54显示了一个SEM图像示例。该图显示了聚醚酰亚胺(PEI)基底上锡氧化物颗粒的拓扑和结构。图例中的标尺为10微米长。图2.54SEM图像,显示了聚醚酰亚胺(PEI)基底上的锡氧化物颗粒。2.4.3原子力显微镜原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)是一种功能强大的高倍率显微镜,由Binnig、Quate和Gerber于1986年开发[33]。AFM使用带有尖锐尖端的悬臂来研究表面特征。在操作过程中,悬臂尖端被接近样品表面。样品对悬臂梁的力导致悬臂梁尖端的偏转,并且使用激光技术来测量这种偏转。与传统显微镜不同,AFM不使用透镜,因此实验分辨率通常由探针尖端的尺寸而不是衍射来控制。AFM通常以两种模式之一运行:(1)接触模式,探针与样品接触;(2)非接触或轻触模式。在接触模式下,样品安装在压电晶体上,并监测悬臂的偏转以保持探针尖端与样品之间的距离恒定。然后将探针尖端扫描过样品表面,并记录保持在尖端上的恒定力所需的垂直位移。生成的高度图表示样品表面的地形(图2.55)。在非接触或轻触模式下,悬臂在外部振动接近其共振频率。悬臂梁的振动特性受到探针-样品相互作用力的影响;这些振动变化提供了关于样品几何形状的信息。动态模式的一个主要优点是它对样品产生较低的横向力,因此被广泛用于成像生物样品。非接触动态模式可以使用频率调制或更常见的振幅调制运行。在振幅调制中,振荡幅度的变化提供有关样品的地形信息。此外,在轻触模式下振动相位的变化可以用来区分表面上不同类型的材料。AFM与电子显微镜相比有几个优点。其中一个是它提供真实的三维表面轮廓。此外,在原子力显微镜(AFM)观察的样品无需进行任何可能破坏样品并阻止其再次使用的特殊处理。而电子显微镜需要真空环境才能正常操作,AFM则可以在常温下甚至液体环境中使用。与扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的主要缺点是图像尺寸。SEM可以显示几平方毫米区域的图像表示,并具有几毫米的景深,而AFM最多只能显示约0.01平方毫米的区域,其景深也只有几个纳米。AFM的另一个常见用途是通过测量将探针尖端轻微压入样品所需的力来测量样品的压痕阻力和刚度。除了这种压痕类型的测试外,AFM通常还用于以下应用:考察聚合物基体中添加剂的分散性和粒径。研究混合物和合金的相态。对表面纹理或粗糙度(地形)进行图像化和定量分析。图2.55原子力显微镜的示意图来源:ABAQUS仿真世界

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