利用Field Probe功能在指定位置提取场值!
Probe用来记录指定位置的电磁场值。Near Field Probe会设置在仿真模型的近场区域,Far FieldProbe则会设置在仿真模型的远场区域。Field Probe主要用于分析电磁设备辐射的电磁场的EMI(Electro-Magnetic Interference特性,或者分析受EMP(Electro-MagneticPulse)等电磁场的影响程度有多大,或在指定位置上查看电磁场。
① 设置Field Probe时,可以在下拉菜单中选择场的类型。
② 在Orientation下方可以设置Field Probe的方向,建议勾选所有方向(Y,Z坐标轴)
③ 在Position下方可以设置基于坐标轴的Field Probe所处的位置。
Tip:
CST支持一次性设置多个Probe的Macro功能。使用该Macro,如下图所示,在以仿真模型为中心的球面上轻松设置多个Probeo路径:Home一Macros-Results-EMC-DefineProbe 2D Plane/3D Volume。
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