个人理解,看封装整体翘曲的话,将bump和underfill等效为一个整体进行仿真即可,如果关注bump应力,两种方案:1、一般情况下bump在四个角落应力最大,可以中间区域bump与underfill等效,外排bump/角落bump建立详细模型进行分析;2、考虑使用子模型,对应力重点关注区域建立子模型继续分析
没找到想要的?提问试试