Sigmetrix增强了Creo中新改进的公差分析能力
新的Creo-EZ公差分析插件现在可以在PTC Creo 4.0 M110和Creo 6.0.3.0中使用
德克萨斯州麦金尼市—2020年1月14日—全球GD&T和机械变异专家Sigmetrix宣布，PTC的Creo®3D CAD软件中提供了新的Creo EZ公差分析插件。它目前提供在Creo 4.0 M110和Creo 6.0.3.0中。
Sigmetrix总裁詹姆斯•斯托达德（James Stoddard）表示：“公司在提高质量、缩短上市时间和降低产品成本方面面临着越来越大的压力。为了应对这一挑战，工程师必须使用公差分析工具专注于设计细节，以确定关键零件及公差，从而使产品易于组装并按要求执行。工程师们通常希望在设计时能快速执行一维叠加，我们认为EZ公差分析将有助于满足Creo用户的需求。”
Creo-EZ公差分析扩展将使工程师更容易在Creo环境中直接进行一维公差叠加分析。这个新工具的主要特点是：
模型用户界面，优化和简化定义
交互式、可视化的公差环
基于特征而不是基于尺寸
偏心的销/孔约束易于选择
图形显示结果
使用统计和最坏情况下的贡献度，容易识别公差贡献度
自动创建HTML报告，其中包括对所有定义的尺寸以及每个叠加尺寸的详细信息的全面概述，包括:
显示尺寸环的图像
显示所有尺寸和公差的详细表格
统计结果的质量分布图
总体变化的最大至最小贡献度图
PTC CAD部门的Brian Thompson说“PTC已与Sigmetrix合作超过20年，他们致力于为客户生产高质量、易用的产品，使他们成为提供Creo EZ公差分析的伟大技术合作伙伴。PTC继续与Sigmetrix合作，帮助客户在项目设计阶段提供优化公差所需的工具。”
从PTC Creo 7.0开始，公差分析插件（TAE）将不再可用，新的Creo EZ公差分析扩展将是Creo内唯一可用的一维公差分析工具。Creo的两个版本（4.0 M110和6.0.3.0）的其余维护版本将同时包含EZTA和TAE，使客户能够将数据从旧工具迁移到新工具。
Creo-EZ公差分析扩展允许用户导入TAE中定义的分析，并将结果显示在Creo的汇总表和报表函数中。尽管Creo 7.0.0.0不包含TAE，但CAD模型文件中的任何遗留TAE数据仍将导入Creo EZ公差分析扩展中。
关于 Sigmetrix
Sigmetrix是一家全面、易于使用的解决方案提供商，通过公差分析和GD&T的正确应用，帮助用户实现稳健的设计。凭借25年以上的研发和咨询经验，他们是GD&T和机械变异方面的全球专家。
