公差分析：均方根法的计算和逻辑

式中Dasm是目标尺寸的名义值，Di是尺寸链上各尺寸的名义值。

目标尺寸的公差为尺寸链上各个尺寸的公差平方之和再开根：         

式中Tasm是目标尺寸的公差，Ti是尺寸链上各尺寸的公差。

例1：如图所示，尺寸A为10±0.2mm，尺寸B为15±0.3mm，请计算尺寸AB累积后的名义值和公差。

同极值法一样，均方根法的计算也是很简单。

同样的，如果尺寸链中每一个尺寸公差均满足±1σ、±2σ、±3σ、±6σ的制程能力，那么均方根法分析的结果也就相应的满足±1σ、±2σ、±3σ、±6σ的制程能力。

如何提高均方根法有效性

有些时候，我们通过均方根法进行尺寸公差累积的计算，结果符合要求。但是在实际生产过程中，却依然有失效的情况发生。

例如，在赶飞机的案例中，按照均方根法的计算结果，到达机场的时间最慢为117.65分钟。但是，如果我们每次都仅仅提前117.65分钟滴滴下单，次数多了会免不了会有赶不上飞机的情况发生，因为真的有可能每一个环节最差状况发生了。

如果我们希望减小失效，能够达到4σ的水平，那么我们需要进行SPC制程管控，确保做到以下几点：

1）尺寸链中的各个尺寸都符合正态分布；

2）正态分布的平均值与设计名义值重合，没有偏移；实际生产时，我们经常发现尺寸中心值偏离设计名义值；那么这个时候我们就需要通过修改模具或者调整工艺参数等方法来减小偏移。