由于扬声器的测试声场环境,低频段的频响曲线的测量会存在一定的误差。即便是在设计良好的消音室,在截止频率以下,也很难准确测试。
方法之一是低频段以TS参数为准,可以拟合出低频段的频响曲线出来。
方法之二可以考虑采用近场进行测试低频段,然后衔接常规远场测试的高频段。
麦克风(传声器)距离振膜推荐在振膜半径的0.1倍或10mm左右。
近场测试变换为远场的计算公式:SPL远场=SPL近场-20*log10(2r/a)。r是远场测量距离,通常1m。a是振膜等效半径,单位m。
有人会疑惑,为什么近场远场换算会牵涉到振膜半径。具体的理论推导可以参考南京大学《声学基础》6.5.3章节,声波的辐射-无限大障板上圆形活塞的辐射-近声场特性。
这种技术最常见的应用是做倒相箱的近场测试。需要分别测量扬声器单元和倒相管的近场频响曲线,然后进行叠加。注意扬声器单元和倒相管的频响都需要进行换算。
条件有限的公司,远场测试可以考虑之前介绍过的地方反射的方法。然后近场低频+远场高频叠加。