BMS涉及到的浪涌测试(上)---基本概念
这次再转向学习看起来比较枯燥的浪涌测试标准，具体如下图：这个测试全称为浪涌（冲击）抗扰度试验（Surge immunity test），它是针对设备对由开关和雷电瞬变过电压引起的单极性浪涌（冲击）的抗扰度测试，用来评价电气电子设备在遭受浪涌（冲击）时的性能。虽然在标准《GB/T 38661-2020 电动汽车用电池管理系统技术条件》中并未要求BMS做浪涌测试，但我了解到许多主机厂还是要求其零部件供应商做浪涌测试的，个人认为后面这个测试一定会被大家重视起来。在标准GB/T 17626.5中，给出了建议选择的试验等级，如下图所示：分为线-线之间与线-地之间两种模式，最大可以到4KV；在BMS上面，浪涌大部分用来测试低压12V端口以及快充接口信号，一般采用500V的浪涌试验电压。浪涌波形发生器的样子如下图所示（图片来自em test官网），一般内部也同时集成了耦合\去耦网络，也可以外部进行选配，使用单独的耦合\去耦网络。针对上图型号为Compact NX5的浪涌波形发生器，其关键参数如下图，大家可以感受下，后面马上介绍浪涌波形特性。下图为浪涌发生器的内部电路，与之前介绍过的EFT/B发生器稍微有些区别，多了电感用于调节输出波形的上升时间。我们这里主要涉及的就是一种电压波形，即1.2/50us浪涌电压波形（如下图），要求波前时间为1.2us，持续时间为50us。注意上面这个波形是在浪涌发生器输出端开路的情况下测得的，因为外部如果接EUT的话，相当于并了一个负载，那么真实输出的波形会变的；例如下图是在EUT电源端口的不同位置捕捉到的浪涌波形，其幅值是变化很大的。上面的这个开路电压波形，如果在EUT呈短路状态的时候，要求发生器输出的短路电流波形如下，即8/20us短路电流波形。耦合与去耦网络的选择是与测试对象关联的，下面介绍我们可能会涉及的几种场景。如果测试对象为EUT的电源端口，那么可以分为线-线耦合与线-地耦合两种耦合方式。下图为线-线耦合，通过18uF的电容将浪涌波形耦合到EUT（图片来自em test官网）。下图为线-地耦合，通过10Ω+9uF的阻容将浪涌波形耦合到EUT（图片来自em test官网）。篇幅原因，信号线与通信线的耦合方式放到下一章节再总结。接下来会介绍实际在BMS上面是怎么测试的；后面有时间的话，准备结合工作实际，整理出高压采样端抗浪涌能力的几个评价方法；以上所有，仅供参考。 著作权归作者所有，欢迎分享，未经许可，不得转载
首次发布时间：2023-08-26
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