忽视了这个潜在辐射源，你的PCB怎么可能通过RE试验？
某台设备做RE实验，放在一块金属板上（汽车电子和军用设备常用）。发现，设备直接放在金属板上时，实验失败；在设备下面垫一块绝缘材料，就可以通过；请问：应该用哪一个事实验结果。以上视频是笔者最新原创视频课程《教你顺利通过辐射发射（RE）试验》思考题内容，点击文尾阅读原文试看，思考题视频可在仿真秀全部免费观看，欢迎在文章下方评论区提问，我将在下一期推文中解答或者评论区解答回复。问1：老师，在“顺利通过辐射发射试验”这门课程的第6讲中，您指出了数字电路中的一个隐藏的辐射源，我深受触动，以前一直没有注意这个问题，难怪采取了很多措施，辐射一直降不下来，因为我的那些措施根本没有针对这个辐射源。但是我不理解，为什么CMOS型的电路比TTL型的电路这种辐射更强。请您做一下解释。杨继深老师：这是由于CMOS电路与TTL电路的输出电路结构不同导致的。为了大家理解，我们把两种电路放在图1中。左边的是TTL电路，右边的是CMOS电路。请大家注意左边图中红色圆圈的电阻。当两个三极管都处于导通状态时，这个电阻起到了限流的作用。右边的图中，输出级的三极管如果同时导通，没有限流电阻，因此会产生很大的冲击电流。所以对于CMOS型的逻辑电路，电源线和地线上的噪声更加严重，需要特别做好电源线去耦的措施。图1 CMOS与TTL的区别
以上问题来自我的最新视频课程《电子产品电磁兼容设计系列精品课30讲》用户讨论。这套课程为在硬件设计领域有实践经验的的老师和工程师以及为对电磁兼容的相关术语和基本概念有一定了解的学子提供完整的学习路线，完善电磁兼容知识体系。学习之后可以系统地掌握控制辐射发射的理论和技术。提升产品通过辐射骚扰试验的概率，并且对于失败的试验也能形成清晰的排查整改思路。课程安排：《电子产品电磁兼容设计系列精品课30讲》
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（完）
