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五轴坐标测量机 REVO粗糙度检测 Revo Surface Roughness

9月前浏览308

Revo Surface Roughness

    

适用于REVO系统的SFP2表面粗糙度检测测头


表面光洁度/表面粗糙度测量

    表面粗糙度测量传统上离不开手持式传感器的使用或需要将工件搬运到专用测量机上。REVO多类型传感器系统彻底突破了上述局限,它将表面粗糙度检测整合到坐标测量机 (CMM) 测量程序中,可让用户在扫描测量与表面粗糙度检测之间切换。该独特功能还可将表面粗糙度分析完全整合到一份测量报告中。

    在五轴测量技术的支持下,SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间,减少工件搬运,并获得更高的CMM投资回报。

SFP2系统 — 特性与优点

SFP2系统由测头和一系列模块组成,能够与REVO的其他测头自动交换,灵活性高,有助于在同一CMM平台上轻松选择最佳工具检测多种特征。由多个传感器采集的数据自动参照同一基准。

由于可使用MRS-2交换架以及RCP TC-3端口自动交换SFP2测头和测针吸盘,因此实现了表面粗糙度测量与标准CMM检测程序的完全整合。

SFP2测头充分利用REVO-2测座的无级定位和五轴运动能力。

SFP2包括一个集成式C轴,还可与各种几何形状的测尖配用,并且模块和测针吸盘之间采用铰链连接,这些因素使得SFP2能够检测最难接近的特征。

测头特性

  • SFP2是滑动式测头,具有2 μm半径的金刚石测尖。滑道通过大约0.2 N的可控力靠在表面上,而测尖的力为0.005 N。

  • SFP2可用于测量直径最小为5 mm的内孔。

  • 表面测量能力:6.3至0.05 μm Ra。

  • 输出:Ra、RMS和原始数据从UCCServer返回至使用I++ DME协议的测量应用客户端软件。原始数据随后可提供给专业的表面分析软件包,用于创建更详细的报告。

  • 传感器标定包括测量MRS-2交换架上的表面粗糙度标定块 (SFA) 的表面粗糙度。标定软件根据标定块的标定值自动调整测头输出。

  • SFP2包括一个集成式机动C轴,它可以使表面粗糙度测量在工件周围的任一所需方向进行。

SFM测头模块

用于SFP2表面粗糙度检测测头的SFM模块将REVO-2测座的五轴测量和无级定位能力与SFP2测头的集成式C轴结合在一起,可以测量之前难以接近的表面特征。

五个专用SFM模块系列具有无与伦比的检测能力,适用于要求极为严苛的工业测量应用。

从A到E的每个模块系列都具有独特的设计特性和最佳用途:比如,通用型A系列模块用于高效执行发动机缸体垫片端面测量和曲轴轴承颈的横向扫描;专用型E系列模块具有一个两部分滑轨和一个中央测针,极为适合深入工件的小孔执行短扫描,比如自动变速箱阀体。

每个模块都有其独特的几何形状和铰链连接,因此可以使用MST模块设定工具在180°范围内选择SFH表面粗糙度吸盘与SFM表面粗糙度模块之间的角度。

    REVO探头校准在传统CMM系统上进行校准会消耗大量时间,而这些时间原本可用于零件测量。使用台式球体,REVO⑧的简单实用的校准技术可确定实际的探头和探头几何形状,从而只需一次操作即可在任何位置进行测量。

   REVO表面光洁度探头(SFP1)

   传统上需要使用手持传感器或将零件移动到专用测量机上进行表面光洁度测量。

    但是,REVO @ SFP1探头使表面光洁度检查成为CMM测量不可或缺的一部分,使您能够自动从扫描切换到表面光洁度测量。

REVO探针更换器系统

REVO探针更换器系统允许自动REVO8探针和测针架更换,通过使用多种测针配置来增强灵活性。

RCP TC是专门设计的热控制端口,用于更换RSP2,RSP3和SFP1探针。

RCP TC的主要功能包括:

'不用时将探头保持在工作温度,以实现最佳计量。

●对于RSP2,RSP3和SFP1探头更换。

●与MRS兼容RCP2配置为更换RSP2和SFP1测针支架,而FCR25用于RSP3测针支架。

   

主要优点

无与伦比的特征测量能力

SFP2受益于REVO的无级定位和五轴运动,配有一个集成式机动C轴。SFM型号提供一系列测尖组合方式,模块和测针夹持座之间采用铰链连接,可检测最难接近的特征。

数据采集不依赖于操作人员

如今表面粗糙度测量可由坐标测量机程序实现自动化且不依赖于操作人员。所有结果(包括表面粗糙度数据)均记录和存储在一个位置,方便检索。

提高对坐标测量机的投资回报

表面粗糙度和尺寸检测相结合,无需专用表面粗糙度测量设备,减少了工厂占地面积、工件搬运和.

相关成本。

   

提升了特征接触和检测能力,用于表面粗糙度综合测量

SFP2测头增强了REVO系统的表面粗糙度测量能力一REVO具有多类型传感器功能,可在单台CMM上提供触发式、高速接触式扫描和非接触式影像测量。

在五轴测量技术的支持下,SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间,减少工件搬运,并获得更高的CMM投资回报。

SFP2系统由测头和一系列模块组成,能够与REVO的其他测头自动交换,灵活性高,有助于在同一CMM平台.上轻松选择最佳工具检测多种特征,由多个传感器采集的数据自动参照同一基准。

SFP2表面粗糙度检测系统使用与REVO系统相同的符合I++DME标准的界面来管理,由雷尼绍MODUS测量软件提供所有用户功能。

来源:RationalDMIS测量技术
通用控制工厂
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首次发布时间:2023-07-12
最近编辑:9月前
山涧果子
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