TotalDMIS 业内首次实现最小二乘法拟合键槽特征

键槽是一种在工业生产中常见的加工形状. 键槽的形状不是一个简单的几何形状, 而是由两个线段和两个半圆组成的复杂几何形状. 对于键槽这种复杂的几何形状, 常规手段无法建立准确的数学公式来描述键槽. 因此也无法使用常用的最小二乘法来拟合键槽.

三坐标测量机行业通常使用构造的方法来测量键槽. 例如有些测量机系统要求必须先在键槽的一条直边上先测量2点, 然后在半圆上再测量3个点等等. 测量软件会根据这些测量点构造出两条平行的线段以及两个半圆, 最后组合成键槽. 这种构造方法必须按照规定的测量点数和测量顺序, 严重依赖测量点的精度, 如果测量点中有某些点的测量误差比较大, 那么最后计算出的键槽必然会出现更大的偏差. 显然这种测量方式的重复性非常差. 还有些测量机系统只测量键槽两侧的半圆, 通过拟合两个半圆来构造整个键槽, 这种系统计算出的键槽没有考虑直线段方向上的误差, 并不能准确反映键槽的真实误差情况. 更有甚者, 有些测量机系统需要使用键槽的理论数据才能处理实际键槽, 这样计算的结果就更加不客观和真实了.

因此测量行业急需要一种更灵活, 重复性更好的键槽测量方法. 为此我们不断地在这个问题上投入研发资源, 并最终实现使用最小二乘法拟合键槽特征的功能.

拟合的键槽是均匀地穿过所有测量点. 即键槽是"平等地"对待每个测量点, 不偏倚某个测量点, 这也是最小二乘法的明显特征

即使只测量键槽的部分区域, 算法仍然能拟合出正确的键槽数据

拟合算法同时支持方槽

拟合算法同时支持三维圆键槽

TotalDMIS提供的算法允许用户以任意个点(不小于5个点), 任意测量位置和顺序来测量键槽, 计算的结果具有非常好的重复性. 同时实现了使用扫描测头来测量键槽. 对键槽的测量能力和计算精度都产生质的飞跃