颗粒粒径形状分析仪XPT

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XPT 颗粒分析仪是基于光学照相原理的颗粒粒径和形状分析设备，包括光源、照相机以及数据分析软件，能够对颗粒的粒径、形状等信息进行统计分析，其测试原理如图所示，CCD 相机在光源的作用下对颗粒进行了拍摄，而后处理软件通过灰度分析、颗粒识别等一系列处理，最终实现对颗粒信息的分析。

XPT 颗粒分析仪在食品、能源、化工、制药等领域拥有广泛应用，在Novartis、Carbogen AMCIS、Lonza、Cilag、Outotec、Wacker、Nestle、Postnova、Bloom 等企业获得了认可。主要应用包含以下几个方面：

杂质离子的检测盒计数

纳米粒子结块的检测

结晶过程的在线监测

溶解过程的监测

微胶囊生产工艺

粉末造粒工艺的在线测量

自由流动分体离线检测

磨粉工艺的检测

气泡的测量（小于1mm）

XPT 颗粒分析仪能够对颗粒的粒径进行分析和对比，结果数据包括多种参数，例如水力直径、等效直径等；采用XPT 的形状分析功能，可以通过一定的参数，表征出颗粒的形状特征。XPT 能够分析的颗粒粒径参数及其定义如下表：

产品型号

XPT-C

XPT-C 为离线湿法分析系统，通过蠕动泵使得颗粒悬浮液流经流动池，从而实现 CCD 相机的拍摄作用，最终分析颗粒的形状、参数的变化趋势、粒径的分布等信息，并实时保存结果数据。

XPT-C 测试系统能够应用于颗粒、液滴、气泡等的分析，包括了形状、尺寸以及计数功能，可应用于食品、化工、制药、高分子等行业领域的颗粒分析。该系统能够分析的粒径范围为大于 1μm 并小于流动池的内径；最小样品体积约 1mL，图片分辨率为 0.65μm/ 像素点。

产品型号

XPT-P

XPT-P 型颗粒分析仪为在线测试系统，采用探针技术，光源和CCD 相机的信号传输通道均集成于探针内部。测试过程中，将探针置于流场内部，即可实现对颗粒的采样及分析。

采用XPT-P 型颗粒分析仪，可实现工艺过程中颗粒的变化进行实时的了解，例如结晶过程、溶解过程、制粒工艺等，实现颗粒粒径变化的实时监控，从而对工艺的操作与控制产生积极的影响。

产品型号

XPT-R

XPT-R 为干法测量装置，通过震动加料器从样品漏斗输送颗粒，而包括了 CCD 相机和光源系统的探针指向加料器，从而能够实现对流过的颗粒进行拍摄与分析。采用该系统，能够对杂质颗粒进行统计与计数，帮助食品、化工、制药等领域的工作者侦测、计数、测量污染颗粒。

产品型号

XPT-CV

XPT-CV 型号的系统跟其它设备的不同之处在于该系统采用一套文丘里系统，将颗粒从工艺流程中吸出，经过流动池拍摄后重新注入到工艺中，实现物料的封闭循环。XPT-CV可用于食品、制药等领域的造粒过程中对颗粒进行监控，通过形状参数判断杂质离子。

XPT-CV 测试系统能够测量的粒径范围为10μm-3mm。由于测试过程中不断从工艺中抽出新的物料，能够实现对工艺的持续监测；为了适应工业应用中的恶劣环境，XPT-CV 采用防护级别为IP65 的特制外壳，保障设备的稳定与安全。

来源：多相流在线

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首次发布时间：2023-06-23