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CSIR中央机械所综述丨激光增材再制造研究进展及所面临的挑战(二)

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4.3 过程监控/实时监控            
由于层层堆积的制造过程是一种伴随着时间的流逝而进行的一个过程,并且再制造部件往往也是一个昂贵的存在。探测和防止在沉积过程中的异常可以防止时间的浪费和资源的浪费。在激光陈及时结合过程控制和监控,可以获得无缺陷的且可接受的精度和准确性的单道沉积层。由此,不仅节省了时间,也节约了成本。而且,为了获得可重复性。可**。可控制和易监控的沉积层是必不可少的。
           
在激光沉积时,除了工艺参数之外,各种不同的信号要么来自于激光-材料的相互作用,要么来自粉末传感器的相互作用,均可以用来检测来确保过程的鲁棒性。工艺过程中的信号可以利用各种不同的技术来探测,如光学、热的、声的技术。然而,将工艺参数、工艺信号和沉积层的质量关联在一起则需要破解工艺信号的密码,这一监控技术见图17。
           

图17实时过程监测和控制的示意图  


图17-1 在线监测与控制系统            

图17-2 复合增材制造的时候,从机理和能量源的角度出发得到的性能-机理-能量源-复合工艺的流程图            

图17-2  不同传感器的控制监测软件的界面图: (a) 相机Camera ;(b) 热成像相机Thermal camera ;(c) 激光扫描(Laser scanner);(d) 电力传感器electrical sensors;(e)熔池视觉传感器 Melt pool vision sensor            
4.3.1 光学监控技术
           
光学监控技术主要用来控制粉末的流量、稀释率、匙孔现象、熔池的形状和成分、热和冷裂纹、层间的搭接、沉积层的形态变化等。工艺信号通过光电二极管、高速相机等捕获。同时还可以利用照相和不同的过滤器以减少对比度和过滤额外的噪音。此外,激光位移传感器、光学发射光谱和激光多普勒振动仪也可以用来进行监测。
           
光电二极管是一种半导体器件,可以将光信号转换成电信号,并且具有快速反应的特点,当光达到光电二极管的时候,信号开始通过它的电流,同输入的光的强度成比例。通常来说,InGaAs光电二极管用来探测红外区域的光,而硅光二极管则用来探测紫外区域的光。
           
CCD(充电耦合装置)和互补金属氧化半导体(CMOS)相机是两种不同类型的用于监控的相机。对CCD相机,信号为像素,通过剪切或相机中的单个电流来获取,然而,在CMOS相机中,每一像素都有自己的处理电流,从而提高了即使是很复杂时也可以快速处理。探头可以同轴,也可以旁轴或者离轴安装。同轴设备可以对整个熔池实时监控,而侧轴可以对整个区域进行处理,并且不会受到激光头振动的影响。在同轴探测的时候,激光加工的光学路径可以如图18所示。这一系统有一个光束过滤器。滤波器和分光镜。
           
图18 同轴的相机监测系统的排布            
熔池的深度也是一个非常重要的参数,会影响到稀释率和匙孔的生成,额外的稀释率对沉积层的形状和质量具有较大的影响。熔池深度直接同激光功率相关,并且反过来正比于扫描速度。控制熔池深度会造成层之间同基材具有较大的结合力。监控熔池的波动可以用来控制熔池的深度。Caprio等人展示了熔池深度和单道沉积时的振动频率之间的关系,见图19。他们测量了熔池表面的振动,借助一个高速CMOS相机捕获二次探测的反射光束来实现的。进一步的,他们的研究结果表明所用相机的识别频率至少是振动频率的二倍。            

图19 熔池穿透深度Vs震荡频率             
Arround等人使用激光多普勒振动仪来监测熔池的振动,其工作原理是两束光来干涉。他们模糊熔池的行为,利用Ga填充孔的办法来填充。模糊振荡器用来激活模糊的熔池。Ocylok等人建议稀释率也可以用来控制熔池的尺寸。结合物理为基础的分析模型,高速同轴相机可以用来估计熔池的深度。熔池的宽度可以通过图像处理来评估分析模型用来评估深度-宽度比。
Qilin等人使用离轴的相机,帧率为60fps来捕获熔池,并使用灰度对数来获得熔池的边界,结果表明,通过控制熔池的尺寸,沉积层的横截面的形状是可以控制的。熔池发射(热发射)熔池同工艺参数变化,如激光功率、扫描速读变化时具有相似的趋势。Fisher等人的研究结果表明熔池发射可以监控并可以用来控制PBF的工艺过程,这一点对控制熔池尺寸是相似的。这一点消除了将相机信号转换为温度信号的过程。高速数字相机具有单色、12位探测和光学过滤(850±20nm)的特点,可以用来对熔池的发射进行影像。大多数的这一技术包括熔池的监控。然而,Banua等人则聚焦熔池的不稳定性而导致了不可靠的探测。他们使用单棱镜相机来捕获熔池的背后沉积层的图像来预测缺陷。缺陷的探测基于温度模式的变化。
           
材料的熔化和蒸发会导致羽化的形成,这会导致加工束流的轮廓以及激光加工时的能量密度的变化。进一步的,羽化的特征和数量也会受到沉积时热的积累的影响。由于较高的体积能量造成的PBF的过熔(低的扫描速度)会造成不稳定的羽化发射。而且,在过熔区域可以观察到大量的羽化,在较高的扫描速度下还观察到未熔合,不同位置的羽化还会重叠。这些变化的监测可以用来控制内部缺陷。红外相机可以连续的获取羽化的特征以获得稳定行为中产生的异常。这一图像的处理的一个案例见图20。            

图20 Grasso等人所提出的图像处理过程            
           


           
图21 红外热成像实时监测反馈原理图            
           
图22 试样冷却速率a)和 熔池温度b),用于研究冷却速率对微观结构演化的影响:B1(v = 25mm/min),B2(v = 50mm/min),B3(v = 100mm/min),B4(v = 200mm/min)            

4.3.2 温度监控

激光再制造时的温度监控是用来控制变形、残余应力、熔覆道形状、显微组织和晶粒演变的一个非常重要的工具。激光制造时的热监控可以帮助探测诸如未熔合、气孔或由于不均匀的传热所造成的表面不规则。收集到的温度数据可以用来决定冷却速率、温度梯度,这些数据间接反映了沉积层的显微组织的特征。热电偶、热成像相机和高温计均可以用来作为激光再制造时的温度监控工具,而高温计、热成像相机为非接触式的温度测量工具。

热电偶分布于熔池附近,所以并不是比较适合用于过程监控;而且,较高的温度接触对接触型传感器来说还会影响到传感器的测量。采用高温计对熔池的温度信号进行测量的优点为不会由于高温计暴漏于较高的温度之下而引起的波动的影响。使用高温计进行温度监测主要取决于材料的热发射性质,而这一性质很难估计。然而,双色高温计可以用来测量材料的发射随温度的变化。进一步的,高温计在近红外区间工作时并不适合ND:YAG 作为热源的激光沉积。Bill等人认为在沉积时材料的氧化反应消除,这是因为它会扰乱红外区间的温度的测量。

再制造需要对尺寸进行精确的控制,未加控制的沉积会导致由于高温热输入而导致基材的变形。Heigel等人和Khan等人均使用K型热电偶来监控温度的变化来控制变形。而且,Heigel等人还引入了一个新的测量标准“熔覆热”(Ph/V,其中P、h、v分别为激光功率、扫描间距和扫描速度),这些参数均直接影响到材料的变形预测。

冷却速率是一个影响到材料显微组织的一个非常重要的参数。Nair等人使用两个高温计来监测DED时的冷却速率。其中一个高温计收集一定间隔时间之后的温度,从而通过两次间隔的温度差来计算冷却速率来,如图22所示。冷却速率可以显著的改变粉末颗粒的再分解或在金属基复合材料沉积时析出相的润湿性。Muvvala等人的研究则表明热循环的在线监控同显微组织是密切相关的,研究的对象为IN718。他们同时还研究了原位沉积In718/TiC时显微组织控制的可行性。

           

图22 冷却速率的测量示意图 

Salehi和Brandt使用双色高温计来监控熔池的温度,此外还使用基于PID控制的LabView来控制在离轴LMD时的温度。他们认为单独的温度控制并不能获得理想的沉积层,同时还需要通过其他参数来控制熔池的尺寸。Farshidianfar等人使用红外为基础的热成像系统来监控熔池的温度和冷却速率。他们通过PID来调节激光扫描纛来实时控制冷却速率。

           

图22-1 Effect of scanning speed on (a) surface temperature, (b) cooling rate, and microstructure (c) 300 mm/min (d) 600 mm/min, (e) 900 mm/min and (f) 1200 mm/min; laser power = 1200 W, laser spot diameter = 3 mm.

           

图22-2 Variation in cooling rate and molten pool size with layer number (400 W laser power, 2.2 mm spot diameter, 20 g/min powder flow rate and 600 mm/min scanning speed).

Wu等人建议,在LMD时,通过红外单色高温计来实时追踪控制沉积层的裂纹生成、裂纹尺寸和位置。为了展示该技术的有效性,他们在沉积奥氏体不锈钢时引入了裂纹,然后用红外单色高温计进行扫描。裂纹的探测基于图23(a)所示的红外单色高温计所获得的最大温度值的不稳定性来实现的。他们的研究发现,较深的尾部意味着较大的温度变化。裂纹宽度、裂纹深度变化所探测到的温度信号的变化见图23(b-c)。

Ding等人的研究表明用于送丝增材沉积的离轴IR热成像监控的有效性。他们使用热电偶来校正材料的发射特性数据。通过热成像照片探测得到沉积层的宽度同物理测量得到的数据相一致。沿着熔道通过监控异常所得到的未熔合缺陷见图24。

           

图24 Lack of fusion defect monitored variation of maximum temperature along the track length detected (Reprinted with permission from

           

图24-1 Typical IR thermal image of cladding layer. (a) temperature field; (b) spatial distribution of temperature. (Experimental parameter: 5356 Al alloy wire, laser power 190 W, wire feeding speed 15 mm/s, scanning speed 25 mm/s.)

4.3.3 光谱监控

在使用高能激光束进行沉积的时候,合金元素的蒸发,会造成熔池中合金元素的贫化以及粉末的波动。这样就会造成沉积层的成分变化。这一变化可以通过监控等离子体发射的分析来实现,这一等离子体发射同元素的蒸发现象密切相关。工艺过程的不稳定性对沉积层的影响也可以通过光谱来实现。这一过程的潜在价值已经被证明过。他们使用海洋光学(HR2000+)的光谱仪,配备2048像素的CCD探头来获取沉积In718时的光谱信号。然而,获得的光发射光谱的分析是通过离线来实现的。他们观察到激光功率、获得了发射的强度之间的关系。然而,粉末输送速率的变化并不会造成光谱的显著变化。在较高的功率的时候,Cr I和Fe I的发射线,观测结果显示,激光沉积层中这两种元素的发射线是可以显示蒸发的。这一论断进一步的采用EDS对沉积层进行分析所得到的结果进行了证实。Bartkowiak则通过对光谱线的观察来识别熔池中的不同元素,强度水平的任何变化均是可能扰动的信号。

Kisielewicz等人在一个不同的研究中表明,在沉积In718时,即使是Cr含量的一个小的变化(Cr<1wt%),此时的等离子羽的变化可以通过过程中的光谱来探测到。进一步的,这一光谱还可以用来识别缺陷和控制沉积层的质量,如稀释率。Liu等人的研究表明电子温度和沉积层的质量之间也是正相关的,这一研究是基于在A36中碳钢上进行热丝沉积IN625的实验中所获得的。电子温度的数值的增加,表明热输入能量在增加。然而,标准误差函数的增加则表明过程中由于电弧和飞溅的不稳定性的开始。他们的研究表明稀释率是可以进行预测的,并且基于等离子羽中的Ni I和Cr I的平均电子温度来实现控制,因为这些数据受到激光功率的影响。Dunbar和Nassar的研究表明气孔率可以通过探测监控Cr I发射的线性-连续的变化而实现,这一实现是基于PBF沉积IN718来实现的。他们同时可以实现对未熔合气孔以及大的气孔的探测,上述缺陷的生成是基于输入能量低和熔池不稳定所造成的。Lough等人的研究表明Cr发射和熔池特征,即熔池尺寸和形貌是关联的。熔池特征表明这些缺陷是由于过熔和未熔所造成的。他们同时还讨论了SLM时,工艺环境和压力对熔池形状和光发射信号的影响。他们的研究发现,当气压增加时,发射线的强度也开始增加,此时压力的变化在0.2-800 Torr。0.2-300 Torr之间的时候,发射信号弱或无光发射信号,则归于由于低压而造成的气体羽的快速膨胀,此时激光和羽化之间的相互作用非常脆弱。Nassar等人的研究则表明,用OES来监控在Ti6Al4V基材上沉积同一材料时的未熔合缺陷。他们的研究发现,Ti I和V I的原子发射在有缺陷的区域中强度要高一些,该探讨是基于线性-连续比值之间的关系来探讨缺陷的位置的。他们发现缺陷位置和Ti I在430nm和550nm处的线性-连续型的比值同缺陷位置之间的相关性。Ya等人的研究展示了OES在实时监控金属沉积层同基材之间结合情况的有效性以及稀释率。IRC强度比值,信号用来探测金属间的结合,而电子温度则用来探测稀释率。RenMazumder则使用等离子发射光谱来原位监测DED沉积AL7075。获得的光谱信号同气孔率密切相关,并使用了3D X射线CT进行了证实。一种人工智能技术,称之为随机树(RF)分类的技术用来预测气孔率,该预测是基于提取的特征来实现的,其精度达到83%的准确性。


           

图24 -2 Dilution ratio of the clad deposited at (a) different voltages and (b) different laser powers.

           

图24-3 (a) OES signal collected during SLM processing with different build chamber pressures, (b) intensity of chromium emission around λ = 520.6 nm, and (c-e) representative micrographs of 304L stainless steel single layer cross-sections processed with various pressures.

4.3.4 声音监控

声信号可以用来探测内部的缺陷,如裂纹、气孔、粉末的流动速度和匙孔现象。基于声的监测经常用于PBF工艺。用于DED时,则由于声音的限制而受到影响,此时存在粉末撞击基材时声音会受到干扰。

声音信号是一种弹性应力波,在沉积过程中产生,可以通过适当的探测器来探测到,并且可以转换成电压信号。而且,声音信号可以要么是结构产生的,要么是在空气中产生的。内部的诸如裂纹、气孔可以通过产生的声音信号的分析来探测。而且,通过AE波的特征分析,匙孔的形成可以被探测。气孔所产生的声音发射同裂纹相比较具有高能、幅度和生存时间的特点。

Wang等人的研究表明在处理1D的声音信号的时候,要比处理2D图像数据要快得多。基于声信号探测的最大的缺点在于解释这些信号的复杂性。而且,当沉积层增加的时候,可探测的声音信号的强度会减少。

在DED过程中的裂纹、气孔的形成可以利用声信号来有效的进行区别。Caja和Liou等人的研究认为信号的能量在识别缺陷上是一个非常重要的参数,比频率的效果更为明显。耳机和光纤布拉格衍射光纤用来捕获空气中的声音信号,这一实验是在SLM中应用监测来实现的。Whiting等人则展示了使用声音信号实时监测粉末流苏的变化。研究表明以声音为基础的探测在监测粉末流速时比光学为基础的探测器要优异的多。

           

图24-4  In-process monitoring with ML techniques using melt pool images captured by IR cameras.

           

图24-5 Flowchart of applying ML techniques for defect detection of SLM processing using in-situ layer-wise top build surface imaging combined with ex-situ CT scanning.

           

图24-6 Applications of ML techniques in various domains of AM research works.

           
未完待续…              

原文链接:Addressing the challenges in remanufacturing by laser-based material deposition techniques, Optics & Laser Technology, 144, 107404.

https://doi.org/10.1016/j.optlastec.2021.107404              



来源:增材制造硕博联盟
SLM振动复合材料半导体光学航空航天电力电子增材裂纹材料控制人工智能
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2023-06-08
最近编辑:1年前
增材制造博硕联盟
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