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高频下微带线的插损讨论

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作为一个设计人员,在做项目或者模块的时候,当碰到自己不确定的东西的时候,心里就会觉得比较烦躁,担心项目或者模块会因为这几项不确定因素而达不到指标。


比如说,当工作频率上升到Ku波段,简单的一个开关,你都会考虑插损、隔离度会不会由于高频而带来一些自己未知的一些风险。

就说微带线的插损。当你对插损敏感,而且走线不得已要很长(比如说250mm),频率到Ku波段,你就不得不考虑微带线给带来的插损。


如果只考虑PCB上的微带线的话,其损耗主要由介质损耗、导体损耗、泄露损耗以及辐射损耗构成。


介质损耗主要和介质材料的Df(dissipation factor)有关。

辐射损耗主要来源于电磁场的辐射,比如链路中的不匹配、天线效应等。

导体损耗主要和导体自身的阻抗有关,趋肤效应、金属的表面粗糙度、阻焊都会影响导体损耗。

泄露损耗与高频PCB材料的电阻有关,电阻越大,就越小。


如果到高频,大家一般都会选择rogers的板材。Rogers官网上有计算插损的软件,从其应用文档看,计算值与测试值还比较吻合。


在用其进行仿真的时候,发现在微带线的模式下,当改变Roughness Loss Model时,会对损耗有影响;而在CPWG的模式下,改变Roughness Loss Model时,则没有影响。这个

应该是软件的一个BUG吧,没理由没有影响啊。

来源:加油射频工程师
UG材料
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首次发布时间:2023-06-02
最近编辑:1年前
加油射频工程师
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