如何快速判断运放电路的稳定性

运放电路如果设计不当，也会出现稳定性的问题。那在仿真设计过程中，该如何快速判断运放电路的稳定性呢？

在TI网站上，介绍了通过间接测试相位裕度的方法来判断运放的稳定性【1】。

方法有两种，分别对应时域和频域。

时域方法：

给运放电路的输入端，灌入一个阶跃或者方波信号，然后看输出端过冲百分比。

频域方法：

分析运放电路的频域幅度响应，测量其增益尖峰。

过冲百分比和频域增益尖峰的幅度，与运放电路的相位裕度直接相关。过冲越大或者增益尖峰越大，则电路的相位裕度越低。

需要注意的是，在测量或者仿真过程中，有时候需要对电路进行调整，如下图所示。

具体是：

(1) 输入端不能有滤波电路。因为滤波电路，可能会滤除阶跃信号或方波信号的高频分量，影响测试结果。

(2) 观察点需要在放大器直接输出端，但是实际负载还需要加上。

那怎么把过冲或者增益尖峰换算成相位裕度呢？

TI的Analog Engineer’s Calculator软件上的有对应计算。

PPT及软件下载

或者去TI官网下载

【1】 stability-4 TI Precision Labs-Op Amps