在《MOS管的米勒效应(4)--文末彩蛋,求锤》文章中提到,在进行米勒效应仿真时,发现在米勒平台期间漏极电流Id持续上升的问题,和米勒平台的理论有些冲突。针对该问题,还开展了答题送书的活动。之前说“让子弹飞一会儿”,现在子弹该命中目标了。下面我们重点讨论下这个问题。
一道问题
首先,我们重温下前面遇到的问题:如下图搭建仿真模型,仿真发现:Id在米勒平台期间仍在上升。在米勒平台结束时,漏极电流才达到最大值。另外在B站上找了老外的实测波形,与仿真结果一致。更换仿真软件,仿真结果也一致。但这与米勒效应的理论冲突。
1、仿真模型:
2、仿真结果
3、米勒平台的理论波形(上面波形与此矛盾)
回答前文中的问题
所以在《MOS管的米勒效应(4)--文末彩蛋,求锤》(点击标题可直接访问)文章中提到的问题:如果MOS管处于米勒平台的区间内,MOS管工作在哪个区?
A:恒流区;
B:可变变阻区;
C:部分在恒流区,部分在可变电阻区;
D:截止区;
MOS管处在米勒平台期间,此时Vgs>Vth,Vds>Vgs-Vth。进一步讲,Vgd=Vgs-Vds<Vth,MOS管处于预夹断状态,注意此时导电沟道并没有被真的夹断,只是夹断缝隙变长,依然有电流Id存在。Vds增加的部分主要用于克服沟道的电阻,Id几乎不变。此时Id几乎仅仅取决于Vgs。
很明显,这道题的答案应该选择A,MOS管处于饱和区(恒流区)。在米勒平台期间,Vgs不变,相应Id也应该保持不变。所以,上面仿真出的结果与上述理论存在明显冲突。
难道,仿真有问题?
仿真有问题吗?
结论:仿真是没有问题的。那问题出在哪里?
问题出在负载上。在此仿真电路模型中所使用的负载为阻性负载。
阻性负载有什么特点?电压和电流是同时变化的。在开关过程中,阻性负载两端不存在电流和电压变化的先后关系,是同相位变化的。
如上图所示,我们把阻性负载的米勒效应分为4个阶段:
阶段①:栅极驱动信号Vdrvier(VF3)快速上升到5V并保持,栅源电压Vgs(VF1)也在相应上升,Vgs<Vth,MOS管没有导电沟通形成,处于截止区,漏极电流Id基本为零,漏源电压Vds(VF2)也没有明显变化。
其实在时间段①内,电路整体表现为一个简单的RC充电电路,Vgs(VF1)可以有一个明确的定量计算(指数函数):
时间常数τ:
输入电容Ciss:
RC充电的电压曲线大致如下,Vgs也类似这样:
这里附带拓展出一个常识。从上图的时间轴来看,重点观察下0ms,2ms,5ms的幅值。
(1)时间常数τ=RC=1kΩx1uF=1ms;
(2)t=0ms时,Vc=0V;
(3)t=2ms=2τ时,Vc=4.32V=0.864xVin;
(4)t=5ms=5τ时,Vc=4.97V=0.994xVin~=Vin。
这里可以我们可以得出一个小结论:在直流充电的过程中,电容两端的电压在经过5个时间常数τ后基本就等于外部输入电压,此时的充电过程也基本结束。
阶段②:栅源电压Vgs(VF1)持续呈指数曲线上升,并开始大于Vth。此时MOS管的导电沟道已打通,由于有Vds的存在,且Vds很大(Vds>Vgs-Vth),MOS管处于饱和区(恒流区)。漏极电流Id在此阶段会有所上升。
在时间段②内,Vgs的定量计算和前面相同,不再重复。Id也可以做定量计算。