SiC MOSFET功率循环测试技术的挑战与分析

    大家好，本期分享华北电力大学邓二平老师关于“SiC MOSFET功率循环测试技术的挑战与分析”的一篇研究报告，以期促进本领域的学术交流和技术进步，内容主要为SiC MOSFET可靠性测试相关研究，包括结温测试、功率循环测试、功率循环寿命等相关内容，请大家欣赏...

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