机械动图第530期：实验室各种仪器原理动图剖析（四）

分析原理：在控温环境中，样品重量随温度或时间变化

谱图的表示方法：样品的重量分数随温度或时间的变化曲线

提供的信息：曲线陡降处为样品失重区，平台区为样品的热稳定区

自动进样过程

热重分析过程

分析原理：样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化

谱图的表示方法：样品形变值随温度或时间变化曲线

提供的信息：热转变温度和力学状态

TMA进样及分析

分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象

谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象

提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等

TEM工作图

TEM成像过程

STEM成像不同于平行电子束的TEM，它是利用聚集的电子束在样品上扫描来完成的，与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。

STEM分析图

入射电子束照射试样表面发生弹性散射，一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值，由此获得能量损失谱(EELS)，利用EELS可以对薄试样微区元素组成、化学键及电子结构等进行分析。

EELS原理图

来源：SolidWorks技巧