来源:半导体行业观察
2G时代
3G时代
4G时代
5G时代
Region (I) 被称为早夭期(Infancy period), 这个阶段产品的失效率快速下降,造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷;
Region (II) 被称为使用期(Useful life period), 这个阶段产品的失效率保持稳定,失效的原因往往是随机的,比如温度变化等等;
Region (III) 被称为磨耗期(Wear-Out period) 这个阶段产品的失效率会快速升高,失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。
从规模上
从技术上
从产品上