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LDO的环路补偿及稳定性探讨

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在前述文章,探秘LDOPSRR参数及周边电路对其影响中我们分析了PSRR这个LDO的重要参数,并且通过仿真了解到输出电容ESR和前馈电容对其PSRR有很大的影响。除了LDO对纹波的抑制能力的PSRR参数之外,LDO的稳定性设计也是非常重要的一个方面,本文就详细探讨一下这一话题。


.线性调压器的基本分类及运行原理

在分析LDO的环路稳定性之前,我们先了解一下线性电源的主要类型,如图1是其中一个典型的类型,NPN达令顿导通晶体管线性电源。

1 NPN达令顿导通晶体管线性电源简易框图


这种结构采用一个PNP晶体管去驱动一个NPN导通晶体管,由于其结构限制,这种线性电源输入端和输出端需要至少保持一个至少1.5V-2.5V的电压才能维持输出调整,因此这种线性电源限制了电池供电应用中电池的使用寿命。


基于上述电池供电应用,另外一类线性电源,也叫做LDO,如图2所示,其导通晶体管为PNP晶体管,驱动比较容易,因此,这种LDO输入端和输出端可以保持比较小的压降,即Vsat就可以维持输出电压调整,并且这个压降和负载电流成正比,轻载时此电压可以达到10-20mV,所以,这种线性电源称为低压差线性调整器(LowDropout Voltage Regulator),非常有利于提高电池的使用寿命。

2 LDO的简易内部原理框图


另外还有一种典型结构,如图3所示,它由一个NPN导通晶体管和一个PNP驱动晶体管组成,这种结构的输入端和输出端的最小压降介于前面两种结构之间,所以,称它为Quasi-LDO.


3 Quasi-LDO的简易内部原理框图


4 导通器件为P-MOSFET的内部简易框图


当内部导通器件为P沟道MOSFET时,如图4所示,由于驱动PMOSFET的驱动电流很小,而驱动PNP晶体管的基极电流会比较大,因此PMOSFET型的LDO的驱动损耗很小。另外,PMOSFET的内部导通压降非常小,因此Dropout很小,这可以让它的封装做的很小,同时可以支持大电流应用。


以上几种线性电源的基本运行原理是类似的,都是通过内部运放调整导通晶体管或者MOSFET的驱动电流,以此满足负载电流变化时保持输出电压恒定,如图5所示,内部运放正端接内部参考电压VREF,运放负端接反馈电压。


5 线性电源的基本运行原理


以上几种线性电源,由于基本结构的差异,其导通晶体管的驱动电流有很大区别,如果我们定义其为IGND,则发现LDO的驱动电流最大,考虑三极管的beta增益为15-20的话,驱动电流可达7%输出电流,而NPN达令顿导通晶体管线性电源的驱动电流非常小,可以达到几个毫安,这一点对减小其自身损耗有很大帮助。


另外一个非常重要的区别是输出稳定性,NPN导通晶体管线性电源,基本上不需要外部电容就可以保持无条件稳定运行,而LDO一般是必须要有外部电容去降低其带宽,并产生相位提升的。而Quasi-LDO需要一定电容就可以轻松的达到稳定。


鉴于此,我们接下来就重点分析一下应用最广泛的LDO的稳定性问题。


.LDO的环路稳定性分析

关于稳定性判据的基本分析及原理,参考我的前述文章,闭环稳定性判据的探讨,这里我们仅仅针对LDO的零极点做一个基本的分析。


根据LDO的基本结构,其同样是一个负反馈,所以其稳定性判断的标准和DC/DC电源类似,都需要整个环路的相位偏移在0db穿越时,小于180C,也就是说,其整个环路相位需要离-180C有一定裕量(假设初始相位为0)。


由于LDO的内部PNP晶体管接为共发射极,所以其输出阻抗非常高,那么就不得不考虑负载和输出电容形成的低频极点的影响。

6 典型LDO的内部含积分器的原理框图


典型的LDO的内部原理框图,如图6所示。接下来我们来分析一下LDO结构的零极点分布,此处,我们假定输出电容的ESR0,暂时不考虑这个因素。

7 未经外部补偿的LDOBode


对于一个未经外部补偿的LDOBode图,如图7所示,假设其DC增益为80dbLDO的基本条件我们定义如下,负载满载为50mA,输出为5V,在满载条件下,其负载和输出电容形成的极点PL如下图8计算,为159Hz



8 LDO的负载极点计算示例


另外,内部有一个积分补偿器P1,极点频率在1k左右,LDO的功率级由于输出阻抗比较高,所以形成一个相对高频的极点,大约在500k,称之为Ppwr,从上述Bode图上看,由于两个低频极点使得在穿越频率处,大约40k附近,让相移达到了180C,所以它是不稳定的一个LDO环路。所以它需要一定的环路补偿,来达到稳定。


.LDO的环路补偿

大多数LDO都需要加输出电容,所以输出电容的ESR是一个天然可以用于补偿环路的器件,因为输出电容和其ESR会形成一个零点,如图9所示。

9 输出电容电路模型


输出电容ESR零点频率如下式可得,

10 增加ESR补偿后的Bode


从图10中的补偿后的LDO的环路Bode图来看,合适的ESR零点的增加,使得带宽及相位进一步增加,图中显示带宽从40k增加到100k,由于高频的500k极点频率较高,对相位的衰减影响不大,所以在100k的穿越频率时,相位裕量大致为70C.从以上示例,可以看出合适的ESR零点频率,可以很好得补偿LDO的环路。

11 典型LDO允许的输出电容ESR范围


虽然ESR可以很好的补偿LDO环路,但是需要适合的零点频率来补偿,因此要注意ESR是否合适,规格书一般会给出ESR的选择范围,如图11所示,是一个示例(或者给出推荐得ESR范围),后面我们会通过仿真来验证ESR对环路稳定性的影响。


一般来说,当使用较大的ESR之后,转折频率会降低,提前将相位及带宽提高,带宽超过功率级极点后,可能导致相位被衰减而震荡,这一点需要注意。


12 ESR补偿导致的相位裕量不足


从图10来看,用超过10ohmESR补偿,导致带宽升到1M以上,功率级极点的作用让相位有了接近80C的衰减,所以只剩下10多度的相位裕量,这会产生环路震荡。

 

如果通过一个很小的ESR为50mohm去补偿,那么ESR零点频率会变得很高,可能会高于带宽频率40k,那么这时候ESR零点提升相位的效果就很小了,如图13所示,


13 较小ESR导致零点对于环路补偿无效


13中,ESR零点远高于带宽40k,所以零点提升相位的效果对于穿越频率处的相位提升没什么作用,环路依然是不稳定的,因为低频的两个极点导致相位偏移180C,相位裕量接近为0,所以建议选择电容的ESR时,一定要让零点频率在带宽之前,增益穿越0db之前,提前提高相位。


四.基于环路补偿考虑的输出电容的选择

一般来说,固态钽电容的ESR大小会比较适合,并且温度特性很好。电解电容的ESR在低温下会以指数曲线增大,所以不适合LDO的补偿,如果是MLCC的话,ESR会非常小,只有几个mohm,需要注意所使用的LDO是否支持MLCC等小ESR应用。如果支持MLCC应用,那么其芯片内部应该包含了一个零点频率,用于补偿环路,此时外部的电容ESR频率就不能太低,也就是ESR不能太大,否则会让带宽变太高,功率级极点产生足够的相位偏移而导致震荡。


14 MIC5235的输出电容要求


MIC5235这个典型的24V耐压的LDO来看,如图14所示,它既可以支持MLCC,也可以支持钽电容,二者都可以让LDO稳定。

15 MIC5235的输出电容及ESR要求


从图15来看,MIC5235需要至少2.2u输出电容才能让它稳定,另外,它指出这个芯片稳定性已经基于MLCC这种低ESR电容优化过,所以它限制了ESR不能过高,否则会导致高频振荡,这个限制最大的ESR3ohm。同时它也指出,建议选择温度系数较好的X7R类型的MLCC会更利于全温度范围的稳定。



16 MIC29302的输出电容要求


一个输入耐压60V,输出电流3ALDO,MIC29302,其输出电容的要求如图16所示,由此可以看出,这个LDO需要一个输出电容才能维持输出电压稳定。它并不需要太小的ESR,一旦用很小的ESRMLCC电容还可能会导致震荡。所以,非常推荐ESR适合的钽电容。


.适用于MLCCLDO的环路仿真

接下来,我们用仿真的方式,验证输出电容的不同参数,对相位裕量及带宽的影响。我们首先看一下对MLCC输出电容优化过的LDO,MIC5235这个器件。

17 可使用MLCC电容的MIC5235Loop仿真原理图


输入电压按照12V,输出电压由分压电阻及1.24V基准设置为9V,采用2.2uF的输出电容,ESR电阻为5mohm,负载电流为150mA

18 MIC5235输出电容ESR5mohm时的环路Bode


由图18的环路Bode图来看,其穿越频率为40k,相位裕量为57C,5mohmESR下是非常稳定的一个环路。


19 MIC5235输出电容ESR5mohm时的零极点计算

 

此时通过计算零极点,得知负载极点在1.2kESR零点在14M以上,基本上不影响环路特性。


当输出电容ESR极小时,如降为1mohm,仿真结果如图20所示,

20 MIC5235输出电容ESR1mohm时的环路Bode


从图20所示的Bode来看,输出电容ESR变得非常低时,ESR零点对环路基本没有影响,它在高频段1M以上,从原始状态的相位曲线可以看到相位由于ESR零点有提升,但是降低ESR后这个相位提升点会变到更高频(在图示上看不到)。


21 MIC5235输出电容ESR1mohm时的零极点计算


从图21计算可知,电容ESR1mohm时,零点ESR频率为非常高频处,大约超过70M,对环路没什么影响。

22 MIC5235ESR变大到3ohm时的Bode


5mohmESR 对应的Bode图为参考,从图22仿真结果来看,ESR变大到3ohm后,发现ESR零点提前起作用,让带宽及相位提前提升,导致带宽为114k,相位裕量为94C,环路变得更稳定。


23 MIC5235输出电容ESR3ohm时的零极点计算


从零极点计算结果来看,ESR零点为24k,负载极点不变,还是1.2k,ESR零点对提升相位和带宽有帮助。

 


24 MIC5235ESR变大到10ohm时的Bode


5mohm ESR对应的环路曲线为参考,从图24仿真结果来看,ESR变大到10ohm后,发现ESR零点提前起作用,让带宽及相位提前提升,导致带宽为305k,相位裕量为60C,相比3ohm时有所降低,可以看出高频功率极极点的作用,让相位有了衰减,所以要适当注意输出电容的ESR选择。


25 MIC5235输出电容ESR10ohm时的零极点计算


从零极点计算结果来看,ESR零点为7.2k,负载极点不变,还是1.2k,ESR零点对提升相位和带宽还是有帮助,但是导致带宽很高,相位受到高频功率级极点影响而衰减。


.不推荐MLCCLDO的环路仿真

上述MIC29302是一个不推荐使用MLCC等低ESR电容的LDO,接下来我们看一下其ESR对环路的影响。



26 MIC29302的输出分压电阻设置


由于MIC29302需要最小负载电流,如图27所示,所以可以适当减小分压电阻的阻值以满足空载时的需要,让它稳定。

27 MIC29302最小负载电流要求


从图27可知,最小负载电流为7mA,当我们设置输出电压为3.3V时,可以按照图28所示的分压电阻,可以满足10mA最小负载电流。

28 MIC29302环路仿真电路


29 ESR500mohmMIC29302的环路Bode


当输出ESR500mohm时,仿真相位裕量为67C,带宽为72k,非常稳定,低频下负载极点和主极点的作用下的180C相移,通过ESR零点相位得到了有效提升。从计算结果来看,如图30,可知负载极点为1.59kESR零点为32k

30 ESR500mohm时零极点计算


31 ESR5mohmMIC29302的环路Bode


500mohmESR为基准,当减小输出电容ESR5mohm时,这是一个MLCC的典型的ESR,此时通过仿真波形来看,ESR零点作用频率到了高频段,所以低频下负载极点和主极点的相位滞后180C,无法通过ESR零点提升,带宽47k,相位裕量变得非常小,只有3C,非常不稳定。由计算零极点的结果可知,负载极点在1.59k不变,但是ESR零点在3.2M的高频处,对补偿相位没什么用处。

32 ESR5mohm时零极点计算

33 ESR50mohmMIC29302的环路Bode


还是以500mohmESR仿真结果作为基准,测试当ESR变为50mohm时的情况,发现此时ESR频率提升相位的效果还是有限,带宽为47k,相位裕量还是只有10C,显然不稳定。


34 ESR50mohm时零极点计算


由计算结果可知,负载零点在1.59k不变,但是ESR零点在318k,还是处于高频处,对补偿相位用处不大。

35 ESR5ohmMIC29302的环路Bode

 

还是以500mohmESR时环路Bode图仿真结果作为基准,测试当ESR变为5ohm时的情况,发现此时ESR频率提升相位更早,带宽提升为453k,相位裕量为75C,非常稳定。

36 ESR5ohm时零极点计算

 

由计算结果可知,负载极点在1.59k不变,但是ESR零点在3.18k,处于比较低频之处,对补偿相位很有用,此时带宽相对较高。


另外,前馈电容也可以给系统带来一个零点和一个高频极点,因此对环路稳定性提升也有帮助,由于篇幅关系,本文暂时不做探讨。


总结,通过介绍线性电源的种类及其优缺点,进一步分析了LDO的环路零极点分布及影响,最后通过仿真的方式验证了输出电容ESR对环路的稳定性的影响,期望对实际应用LDO电路的读者稳定性调试有一定的帮助。


参考文献:

AN-1482 LDO Regulator Stability Using Ceramic Output Capacitors

AN-1148 Linear Regulators: Theory of Operation and Compensation




来源:电源漫谈
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著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2022-09-15
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