Klippel Scanner计算频响曲线_振动_声学

Klippel Scanner计算频响曲线

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Klippel Scanner计算频响曲线

一款常见单元的Klippel Scanner计算得到的频响曲线，AAL和Total SPL。

其Total SPL1k以后的谷位非常深，根本不像实际的产品。

另外以两款环状膜片压缩高音为例进行说明。

下面是测试方法图示：

两款不同压缩高音，Klippel Scanner计算的频响曲线如下：

其中蓝色是Total SPL频响，红色是Scanner计算AAL频响。

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频响曲线差异分析

和产品实测的频响曲线对比来看，计算和实测频响曲线存在一定差异。

首先，从测试方法来说

半透明材料的反射率是一个问题。

高频段计算需要更密集的取点。

另外更重要的，从原理来考虑：

激光测试的膜片位移只是音圈运动方向的位移。垂直音圈方向的位移并不能被测量。因而其高频段的实际结构振动与Scanner测试是存在一定差异的。

另外，从Scanner计算频响的方式来说，是采用对每一点的声压贡献进行瑞利积分得到的。这种积分方式，相对于考虑声传播过程的方式(比如利用有限元方法求解)，会存在一定差异，尤其是在高频段，因为没有考虑声波传递过程。当膜片较深时，差异会更大。所以深锥低音扬声器的高频计算和实测差异会比较大。

通过模拟Scanner使用的积分方法和声学波动有限元两种计算方式，可以复现以上现象。

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结论

每一种测量/仿真方法都有其局限性。不必过于迷信某一种。要清楚其局限到底在哪，背后的原理是什么。这样才能把工具用好，发挥其最大的功能。

Klippel Scanner适合测量单一方向的位移。但与激光方向有较大偏转的位移就不能很好的测量。

另外，对于半透明膜片，有稀疏孔洞的非连续性材料（比如支片），或者表面粗糙的物体，激光测量的重复性也会较差。

来源：声学号角

压缩高音技术演变

01—压缩高音简介压缩高音之所以叫压缩高音(或者压缩驱动器)，是因为对扬声器单元驱动的空气进行压缩，提升其输出声功率。下图是简单的原理和结构说明。压缩比为Sd/St。压缩高音有点类似功放，放大输入信号。设计上的问题(声波谐振，振膜分割振动等)或者物料和装配的公差也同样很容易成倍地反应到最终的频响和失真上。所以一款好的压缩高音对设计/物料/装配的要求比较高。【扬声器系统设计与仿真】压缩驱动头以及号角仿真压缩高音相位塞设计目前主要的两种压缩高音结构：向后辐射球顶振膜压缩高音。振膜材料以纯钛模或钛模+复合边为主。向前辐射环状振膜压缩高音振膜材料以PEN，Kapton等材料为主。02—部分压缩高音专利EdwardWente, Bell Telephone Labs, 1929AlbertThuras, Bell Telephone Labs, 1929凹铝膜片，励磁磁路，斜纹边LionelCornwell and William Woolf, 1934 内外绕音圈，斜纹边LeeBostwick, Bell Telephone Labs, 1933球顶膜片，励磁LeeBostwick, Bell Telephone Labs, 1933 同轴扬声器EdwardWente, Bell Telephone Labs, 1933AlbertThuras, Bell Telephone Labs, 1936 两侧辐射EdwardWente, Bell Telephone Labs, 1936非常接近现代的产品SidneyLevy, 1958铝镍钴磁铁MarshallBuck, Cerwin-Vega Inc., 1986 同轴JBL环形振膜 1955径向相位塞AlanAdamson. 1990 BernardWerner. JBL, 2006EugeneCzerwinski and Alex Voishvillo, Cerwin Vega, 2001 Alex Voishvillo, JBL Pro D2单元来源：声学号角