串扰的概念在网上和书本上很容易找到,一般指的是当信号在传输线上传播时,因电磁耦合对相邻的传输线产生的不期望的电压噪声,这种噪声会导致信号的信噪比SNR降低,进而导致误码。
串扰可以细分为容性串扰和干扰串扰,按接收的位置不同,可以分为近端串扰NEXT和远端串扰FEXT,参考下图,感兴趣的可以自己上网搜索,本文暂不展开。
通常大家仿真串扰,会观察端口之间的隔离度,经常大家会说隔离度要在-30dB或-40dB以下,串扰才算小。然而从实际项目的经验来看,即使隔离度小于-45dB,该发生串扰的,还是存在串扰,似乎仿真没啥用。
串扰的仿真,很多人都忽视了一个很重要的细节,那就是信号强度的差异。在仿真软件中,串扰都是按归一化的1V来计算的,但是实际信号的摆幅存在很大差异,尤其是对于光探测器APD,其输出的光电流只有十几个uA,这么小的电流,即使是存在一点点噪声,也会导致误码的产生。
举个简单例子,如果信号的Vpp=1V,隔离度=-40dB,那么接收到的串扰=1V*10^(-40/20)=10mV,假设阻抗为50ohm,那么接收到的串扰电流=10/50mA=0.2mA=200uA,对于APD来说,这是一个巨大的噪声。因此这种情况下-40dB的隔离度是远远不够的。
所以仿真串扰的时候,需要结合信号本身的强度来看,不能仅仅看端口之间的隔离度。
光模块上,经常发生且不好解决的是TOSA对ROSA的串扰,为避免串扰的发生,应当在设计阶段就进行详细的串扰仿真,避免后期为解决串扰,对产品修修补补。
TOSA对ROSA的干扰路径一般有3类:
1、TX trace对RX trace的干扰,由于RX trace在TIA之后,信号已经经过放大,串扰的影响相对较小,在0.5~1dB之间;
对应的措施是优化接收FPC;
2、TX trace对TIA电源网络的影响,含VCC\VAPD等,跟TIA本身的抗噪声能力关系很大;
对应的措施是优化滤波网络,选用抗噪声能力强的TIA;
优化电压走线trace;
3、TX trace对TIA输入端的影响,由于TIA的输入光电流很小,通常是uA级别,这里最容易受到干扰;
优化发射通道链路的阻抗一致性,信号回流,避免高频谐振;
减小driver输出Vpp;
添加吸波材料;
4.1 首先要根据ROSA的接收灵敏度、PD或APD的响应度来计算TIA输入电流大小,然后通过调整PD模型,来实现这个电流值。因为电路仿真软件里面没有光的部分,可以用电压来替代光,保证输出的电流是你要求的值就行。
4.2 端口隔离度与实际隔离度
下图中除红色曲线外,其他四条曲线为通常仿真的端口隔离度,在0~50GHz,都在-70dB以下,按常规的理解,这个串扰已经很小了,但是如果跟红线信号本身的强度相比,在高频(>20GHz),隔离度不到20dB,这个串扰就已经很大了。
其中灰色的曲线为靠近接收的TX通道的串扰,可以看到TX和RX距离越近,串扰越大。
4.3 TX on/off时TIA输入眼图对比
下面为TX off时的TIA输入光电流眼图,非常好,所以在实际模块上,TX off时的串扰也很小。
下面为TX 开启时的眼图,可以看到邻近TX的RX4眼图最差,远离TX的RX1眼图相对较好。所以仿真的时候可以优先评估接近发射的通道,从预期串扰最大的通道开始。
part 5: TIA输出端的串扰仿真结果展示
因为TIA是有增益的,TIA输出的信号摆幅会相对大些,所以对于输出端的串扰仿真,最好加入TIA的S参数,这样仿真才准确。
另外从TIA输入端进入的噪声,也会跟随信号同步放大,从这个角度来讲,也需要加入TIA进行仿真。
ps:ADS仿真TIA跨阻Zt比较方便。
总之:光模块串扰仿真,一定要考虑信号本身的强度,不然仿真的串扰很可能完全无参考价值。