首页/文章/ 详情

TR多功能芯片串行校验电路

2年前浏览5955

摘要:

基于NEDI 0.15μm E/D GaAs PHEMT工艺,研制出了一款集成了6位移相器、6位衰减器和24位串转并数字驱动器的X-Ku波段宽带幅相控制多功能芯片。其中衰减器采用了电容补偿T型开关衰减结构和电感校正π型开关衰减结构,具有衰减精度高和相位变化小等优点。24位串转并数字电路极大地减少了MMIC控制线的数目,且具有存储两个控制码的能力。测试结果表明:在818GHz频带内,插入损耗为-9.8-12.2dB,移相误差均方根值(RMS)小于8°,移相幅度均衡小于±1.2dB。衰减误差RMS小于1.2dB,衰减附加相移RMS小于6°,输入输出驻波小于1.8。24位串转并数字电路时钟频率为17 MHz,高低电平的阈值电压分别为3.6V和3.4V。 

关键词:

数字衰减器;数字移相器;串转并数字电路;单片微波集成电路;GaAs;

下面的内容为付费内容,购买后解锁。

内容简介:串转并数控集成宽带幅相控制

科普知识工程仿真体系创新方法PLM电子兵器船舶航天航空电源完整性信号完整性电路射频微波电磁基础AutoCADOriginMATLABAltiumADS
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2022-02-18
最近编辑:2年前
蜀道难
硕士 | 工程技术人员 射频微系统SiP相控阵TR
获赞 99粉丝 30文章 8课程 0
点赞
收藏
未登录
还没有评论
课程
培训
服务
行家
VIP会员 学习 福利任务 兑换礼品
下载APP
联系我们
帮助与反馈