信号完整性测试，关于SMA装配的细节，很多人都忽视了

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本文摘要（由AI生成）：

本文总结了SMA转接头的应用及其在不同速率下的带宽需求，特别强调了在高速率时代，SMA转接头和PCB板边铺铜的细节对信号完整性的影响。通过实际测试和仿真分析，揭示了SMA pin处阻抗不连续性的原因，并提出了优化措施。文章还指出，在低速时代这些问题可能被忽视，但随着速率的提升，这些问题将变得显著。文章最后提供了仿真的一些说明和注意事项，供读者参考。

SMA转接头是射频微波、天线和高速电路测试经常用到的一种连接器，应用非常广泛，种类也很多。在信号完整性的测试夹具中，2.92mm的SMA用的较多，它的带宽可以到40GHz，对于25Gbps的速率来讲，完全够用，如果速率更高，就得选用带宽更高的2.4mm或者1.85mm的SMA转接头。

或许就是因为经常用，关于SMA装配的细节，很多人都忽视了，毕竟在2.5Gbps和10Gbps时代，测试夹具设计只要不是很离谱的设计，稍微注意下高速信号的处理，测试出来的性能都不会差。

但是到了100Gbps（4*25Gbps)或者更高速率时代，设计测试夹具，就不能那么马虎了，尤其是对于高速信号出入的门户SMA转接头，更要特别注意。

先来看两张实际测试的SMA的TDR曲线图，单独看SMA的TDR，保持末端开路，阻抗一致性比较好，稍微偏感性，最大阻抗为51.3ohm，此时如果将SMA安装到PCB板上，问题就来了，竟然有一个63.9ohm的阻抗尖峰，这是怎么回事？跟仿真是完全对应不上的，SMA pin处是一个典型的阻抗不连续性结构，在仿真时肯定会重点照顾这里。

SMA末端开路TDR分布

SMA安装在PCB上的阻抗分布

仿真TDR

后来仔细观察PCB，发现了一个常见却不重视的细节，那就是PCB的板边控制，PCB的板边铺铜一般会保留至少0.2mm的安全间距，常见的是保留0.2mm~0.5mm，就是因为这个安全间距，导致了SMA pin处的阻抗偏高。

PCB板边控制

既然找到一个重大疑点，就先来仿真看看是否会重现结果，果然，如果将铜内缩0.2mm，pin处的阻抗会偏高至54.3ohm，如果内缩0.4mm，那么仿真阻抗也会到65.48ohm，跟实际测试的现象很一致，因此到了25Gbps这么高的速率，PCB铺铜一定要到板边，不然就会在SMA pin这里出现很大的反射，见下图的S11。

铺铜内缩0.2mm model

铺铜内缩0.2mm跟铺铜到板边TDR对比

铺铜内缩0.4mm 仿真TDR

反射对比

后面查找了一些资料，发现SMA厂家推荐的也是铺铜到板边，不能留有任何间隙，铺铜没到板边，就是相当于留了间隙，so gap causes poor connection at higher frequency。

SMA厂家推荐无间隙

留有间隙将导致高频性能变差

为什么这个铺铜没到板边，不会被注意呢，那是因为在低速（10Gbps及其以下速率）时代，这样用根本就不会有问题，这跟信号的上升沿时间有关系，来看一张仿真的TDR曲线。

同样的一小段传输线结构，一个2.92mm的SMA加一小段50ohm微带线，覆铜距离板边内缩0.2mm，在不同的信号上升沿时间下观察TDR，可以看到，对于120ps（2.5Gbps）的rise time，差不多就是标准的50ohm传输线，而当rise time为35ps（10Gbps)时，稍微表现为感性，SMA pin处的阻抗偏高为51.3ohm，如果继续提高rise time为15ps(25Gbps），那么pin针这里的阻抗会偏高至54.3ohm，已经超出了50ohm+/-2.5%的范围了，将会导致较大的反射，也就是速率提高了，才会出现问题。