SI-list【中国】PCIE 4.0 CLBTest Fixture
本文摘要（由AI生成）：
迪赛康PCIE 4.0 CLB测试夹具支持PCIE1.0~4.0数据测试，包括X1,X4,X8,X16金手指接口，采用SMP高速连接器与仪器连接，支持PCIE1.0~4.0的多种码型切换和码型显示，机械尺寸为PCIE板卡标准半长全高尺寸167.55mm*111.15mm。单板尺寸均满足PCIE标准板卡的半长全高尺寸，PCIE信号全部走微带线，无打孔，阻抗设计控制差分85欧姆，包含1倍和2倍校准线。采用高速SMP接头与仪器连接(最大带宽支持60Ghz)。经测试，两款CLB单板阻抗均在85Ω±5%范围内。
应用场景：
支持全带宽PCIE4.0基板测试（向下兼容）
主要特点
阻抗一致性优越，差分阻抗85Ω±5%。
极低的插入损耗。
各通道skew差异小于±2ps。
SI性能优化至16Gbps，符合PCIE4.0协议。
高性能SMP连接器，最大带宽支持到60Ghz。
自动码型切换，测试码型实时显示。
产品描述
迪赛康PCIE 4.0 CLB(Compliance Load Board)测试夹具支持PCIE1.0~4.0数据测试，包括X1，X4，X8，X16金手指接口。单板采用SMP高速连接器与仪器连接，并支持PCIE1.0~4.0的多种码型切换和码型显示。机械尺寸为PCIE板卡标准半长全高尺寸167.55mm*111.15mm。
2.产品设计
PCIE 4.0 CLB测试单板主要用来测试系统的主板PCIE接口，边缘分别是X1，X4，X8，X16的金手指，主要是插在主板对应槽位的PCIE插槽上，从测试仪器通道引出的SMP线缆接至CLB上的对应测试点。
基于板卡尺寸限制，我们将4种金手指设计在2块单板上，一块上面集成X1和X16接口，另一块集成X4和X8接口。
单板尺寸均满足PCIE标准板卡的半长全高尺寸，PCIE信号全部走微带线，无打孔，阻抗设计控制差分85欧姆，包含1倍和2倍校准线。采用高速SMP接头与仪器连接（最大带宽支持60Ghz）。
CLB单板可以在测试中通过按钮自动切换码型，支持从PCIE1.0到PCIE4.0的多种码型切换，还可以调整和随时复位码型，双方向对称显示。
3. 产品测试
测试仪器：KEYSIGHT 网络分析仪 E5071C（300khz—20Ghz）
通过同轴线缆和SMP转接线连接单板校准线，测试单板实际差分阻抗
经测试，两款CLB单板阻抗均在85Ω±5%范围内。
通过同轴线缆和SMP转接线连接单板校准线，测试回波损耗和插入损耗
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