常用触发测头:
(1)TP20
TP20是一款超小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件设计,由测头本体和可分离测针模块组成,使用高重复性磁接头连接。因此具备了手动或自动更换测针配置的功能,无需重新标定测针端部,大大节省了检测循环的时间。 模块具有七种不同触发力,使测头性能能够完全符合测量需求。还有一系列测头加长杆及一个六向模块可供选择。测针安装螺纹与雷尼绍M2系列的测针匹配。 TP20系统可方便地用于坐标测量机系统的改造,并与现有触发式测头接口、加长杆和转接头兼容。
(2)TP200
具有模块交换功能的超小型测头,它使用应变片机构,比机械结构式触发测头的寿命更长、精度更高。
特性与优点
- 应变片技术具有无可比拟的重复性和精确的三维轮廓测量
- 零复位误差
- 无各向同性影响
- 六向测量能力
- 测针测量距离达100 mm(GF测针)
- 测头模块快速交换,无需重新标定测尖
- 寿命 >1000万次触发
(3)TP7M
TP7M测头是采用应变片技术的电子测头,具有较高的精度,消除了各向异性和复位误差,并且使用寿命比机械结构式触发测头长很多。
通过多芯自动吸附连接,TP7M可与 PH10M PLUS / PH10MQ PLUS机动测座、PH6M固定式测座以及多芯加长杆 (PEM) 系列兼容。
优势:
1:更适于规则几形形状态的物体或特征及已知表面的测量;
2:有多种不同类型的触发测头及附件供采用,应用场景更宽;
3:采购成本及后期使用成本低;
4:更适用于尺寸测量及在线应用;
5:对比扫描测头故障率更低;
6:体积小,易于在窄小空间应用;
7:由于测点时测量机处于低速匀速直线运行状态,测量机的动态性能对测量精度影响较小;
劣势:
1: 测量取点率低 ,所以不适合于轮廓、曲线、曲面等测量。
(1)SP25M
SP25M是世界上最小型的多用途扫描测头系统。
SP25M由两个传感器组成,包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块(可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针)中任意选择一个,与转接模块(与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容)进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。
SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时,这些组合具有极佳的测触能力,便于检测各种零件特征。
(2)SP80
SP80轴套式安装扫描测头采用数字刻度和读数头技术,加上创新的分离光学测量原理,即使配用长测针也能够提供卓越的扫描性能。
通过搭配长达1000 mm,重500 g的测针(包括不受平衡影响的星形配置),SP80可以测触工件较深部位。雷尼绍的M5测针用于配合SP80使用,以确保其达到最佳性能。
系统主要优点:
- 使用能提供0.02 μm分辨率的数字读数头,实现超高精度扫描
- 可配用长达1000 mm,重500 g(不平衡)的大直径/偏重测针
- 由于测头内的低悬浮质量,可实现快速动态响应
- 可重复测针交换,方便快速、灵活检测工件
优势:
1:采点率高,所以适于形状、轮廓、曲线、曲面等需要多数据元素的测量;
2:高密度采点保证了良好的重复性、再现性;
3:更高级的数据处理能力;
4 : 高精度测量:扫描测头对离散点测量是匀速或恒测力采点,其测点精度可以更高;由于扫描测头可以直接判断接触点的法矢,对于要求严格定位、定向测量的场合,扫描测头对离散点的测量也具有优势;
劣势:
1:比触发测头复杂;
2:对离散点的测量较触发测头为慢;
3:高速扫描时由于加速度而引起的动态误差很大,不可忽略,必须加以补偿;
4:测球的磨损必须注意。
1:在可以应用接触式测头的情况下,慎选非接触式测头;
2:在只测尺寸、位置要素的情况下尽量选接触式触发测头;
3:考虑成本又能满足要求的情况下,尽量选接触式触发测头;
4:对形状及轮廓精度要求较高的情况下选用扫描测头;
5,扫描测头应当可以对离散点进行测量;
6:考虑扫描测头与触发测头的互换性(一般用通用测座来达到);
7:易变形零件、精度不高零件、要求超大量数据零件的测量,可以考虑采用非接触式测头;
8:要考虑软件、附加硬件(如测头控制器、电缆)的配套。