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国产工业软件(CAM编程):从加工的角度分析编程软件的逻辑思维

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当初去某培训机构学习CAM软件的时候,当时的校长问我,什么是CAD?什么是CAM?

我是这样回答的,CAD就是建房子,CAM就是拆房子。

他又问我,那么CAM精加工是什么?

这还不简单,就是修房子,刷漆,铺地板。

那么造型设计呢?

我的回答,就是打磨工艺品。CAM就是除料加工,CAD就是堆料设计。

破坏容易建设难,修修补补更难。


  最初的PowerMILL,ESPRIT还有MasterCAM Cimatron IT,还是SolidCAM,UG/NX CAM,等等一系列的加工软件加工模块,大多采用曲面参数偏置法或者曲面参数网格划分的交叉算法。


  但是进入2010年以后,所有的CAM软件都陆续加入特征加工的模块或者算法。所以出现很多软件,比如PowerMILL在被欧克特收购前后,所出现的算法速度降低,策略退化的现象。WORKNC出现版本间功能丢失的情况。ZW3D/CAM出现NURBS加工和新版加工完全不匹配的情况。

 

  造成这些情况的原因主要是这些方面:



   但是我想表达的观点,就是,轮廓加工,曲面加工,特征加工,多轴加工,自始至终都是一体的,一脉相承的。任何外来算法,软件做不到独立自主,这些外来算法就是无效。


   我的出发点,主要有这几点:


!!!CAD的功能越来越参数化,越来越智能化集成化。很多基础算法因为开发者的流失,造成不可逆转的断档

!!!中间数据格式的内容越来越多,标准的历史问题,已经从原来的奇点不可察到现在的完全不敢忽视的程度

!!!PC硬件的不断升级,军用民用技术层面的逐渐隔离,软件开发的手段多样化,平台和时代变化带来的机遇挑战等

!!!不管文件格式,还是CAD,还是CAM,归根结底,都是数据!这个本质永远不会变!

  

  在这里,我重点表扬的是MasterCAM软件。



   既保留了很多优秀的传统策略,并且优化了传统策略。又加入了很多新的插件策略,但是有一点值得注意,MasterCAM避免了很多其他软件的问题。比如,一些曲面加工。因为类型不同,比如这是参数曲面,那是裁剪曲面,边界曲面,或者直纹面,或者不可辨识的片体,所以很难组合起来成为一个面,甚至成为一组面的可能性也为0.甚至软件本身对曲面间的UV向处理能力就差,到最后会出现各种各样的问题。临门一脚。跑到卫生间门口,却进不去的尴尬状态,身心的双重折磨。

 

  我们总是借来就不钻研,钻研又不创新,创新又不改革,改革又不革命。虽然是个合格的学生,但不是合格的个体。

  

举个栗子,看图。



   这类曲面在很多软件里面就是单一的认为是不规则面。基本没有组合成单一面的可能性。边界的计算也是一塌糊涂。怎么进行无限制方向投影加工?



有句话,叫做大智若愚,大巧若拙。



  我们为什么不引用运动轨迹法?把刀具当做零部件进行装配体运动轨迹计算?



那么我们就有一个极度尴尬的现实问题摆在面前。我们对数据体的参数化划分和参数化集成技术达到哪一阶段了!这是我们开发CAM模块的重要技术基础!

 

  那我们再回到最初的二维CAM里思考怎么强化基础算法的可延续性和基础性地位。


   CAD是由点线面再到体,体装配,体运动,体分析。CAM就是一个反向的过程。围绕的结合点,就是数据。就是参数化的数据。


来源:山涧果子
其他软件UGMastercam曲面装配
著作权归作者所有,欢迎分享,未经许可,不得转载
首次发布时间:2025-01-15
最近编辑:6小时前
山涧果子
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雷尼绍测头(传感器)TP20 与TP200 详细对比 2022

探测系统是由测头及其附件组成的系统,测头是测量机探测时能发送信号的装置,它可以输出开关信号,亦可以输出与探针偏转角度成正比的比例信号,它是坐标测量机的关键部件,测头精度的高低很大程度决定了测量机的测量重复性及精度;不同零件需要选择不同功能的测头进行测量。 触发测头(Trigger Probe):又称为开关测头,测头的主要任务是探测零件时发出锁存信号,实时的锁存被测表面坐标点的三维坐标值。 触发测头一般发出的为跳变的方波电信号,利用电信号的前缘跳变作为锁存信号,由于前缘信号很陡,一般在微秒级,因此保证了锁存坐标值的实时性。 扫描测头(Scanning Probe):又称为比例测头或模拟测头,此类测头有的不仅能作触发测头使用,更重要的是能输出与探针的偏转成比例的信号(模拟电压或数字信号),由计算机同时读人探针偏转及测量机的三维坐标信号(作触发测头时则锁存探测表面坐标点的三维坐标值),以保证实时的得到被探测点的三维坐标,由于取点时没有机械的往复运动,因此采点率大大提高,扫描测头用于离散点测量时,由于测杆的三维运动可以确定该点所在表面的法矢方向,因此更适于曲面的测量。触发式测头测量离散的点,是检测三维几何工件的理想选择。 接触式触发测头主要包括:机械式触发测头(TP20)、应变片式触发测头(TP7、TP200)、压电陶瓷触发测头(TP800)。 机械(电阻)式触发测头的代表为TP20,它结构简单、体积小、耐用(100万次),预行程在XY平面内有较明显的三角形效应,目前最常用型号为TP20,可实现自动更换探针。TP20的单向重复性为035 um(采用10 mm长探针),预行程的变化为0.6-0.8um(采用10mm长探针)。 应变片式触发测头(TP7、TP200):这种测头,利用应变片感受探针受力,触测力达到一定的阅值而触发,而不需要触点的机械通断,因此灵敏度高、寿命长;一般内部采用四片应变片,三片在X、Y、Z方向,一片主要进行温度补偿;做成了固体开关、具有高精度、高重复性的特点,寿命长(1000万次),较小的预行程三角形效应,且可用较长探针("GF”型最长达100 mm),目前最常用型号为TP200。 应变片式测头的单向重复性可达到0.25um(TP7,50mm长探针),0.4um(TP200,50mm长探针),预行程的变化0.25um(TP7,50mm长探针),0.8Hm(TP200,50mm长探针)1.雷尼绍TP20详细介绍: TP20是具有模块交换功能的超小型触发式测头。该测头采用双部件设计,由测头本体和可分离的测针模块组成,可使用一系列测针配置和加长杆测量复杂零件的特征。模块可以通过手动或是无需重新标定测针的自动方式进行交换。 具有模块交换功能的超小型触发式测头,可以配用一系列测针配置和加长杆测量复杂工件的特征。TP20与MCR20和PI 200-3配用 TP20是一款超小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件设计,由测头本体和可分离测针模块组成,使用高重复性磁接头连接。因此具备了手动或自动更换测针配置的功能,无需重新标定测针端部,大大节省了检测循环的时间。 模块具有多种触发力,使测头性能能够完全符合测量需求。还有一系列测头加长杆及一个六向模块可供选择。测针安装螺纹与雷尼绍M2系列的测针匹配。 TP20系统可方便地用于坐标测量机系统的改造,并与现有触发式测头接口、加长杆和转接头兼容。系统组件包括:(1)TP20测头本体(2)TP20测头模块 — 七种不同选择,以适应各种应用(3)MCR20或TCR20模块交换架 — 自动操作(4)MSR1模块存放架 — 手动操作(5)适合与雷尼绍的PI 7-3、PI 200-3和UCC控制器连接测头模块目前可提供7种适合各种应用的测头模块系列,以端部的颜色 区分。交换架(1)TP20低测力模块低测力测头模块通过绿色盖帽标识,适合需要低测力以测量工件偏移的应用。低测力测头模块的推荐测针限值如下:(1)钢质和碳化测针,长度不超过30 mm(2)无星形或曲柄式测针(2)TP20标准测力模块标准测力模块通过黑色盖帽标识,适用于最长不超过50 mm的大多数应用。标准测力模块可以使用以下范围的测针:(1)不超过50 mm长的直测针(2)星形和曲柄式测针,偏置不超过20 mm(3)TP20中等测力模块中等测力测头模块通过灰色盖帽标识,适合需要比标准触发力更高的触发力的应用。中等测力测头模块的推荐测针限值如下:(1)任何类型的测针,长度不超过60 mm(2)星形和曲柄式测针,偏置不超过20 mm(4)TP20加强测力模块加强测力测头模块通过棕色盖帽标识。通常,这种测头模块只在使用大测针组件时才需要使用,而且适合于由于机器振动和加速造成假性触发而不能使用标准或中等测力测头模块的应用。加强测力测头模块的推荐测针限值如下:(1)任何类型的测针,长度不超过60 mm(2)星形和曲柄式测针,偏置不超过20 mm(5)TP20六向测头模块六向测头模块通过蓝色盖帽标识。这种测头模块适用于要求在Z方向上测量的六向操作(例如,测量侧凹)。六向测头模块的推荐测针限值为:(1)任何类型的测针,长度不超过30 mm(2)星形和曲柄式测针,偏置不超过10 mm(6)EM1标准测力模块(50 mm加长杆) EM2标准测力模块(75 mm加长杆)EM1标准测力测头模块适合需要额外50 mm延伸长度的大部分应用。EM2标准测力测头模块适合需要额外75 mm延伸长度的大部分应用。EM1和EM2标准测力测头模块分别适合需要额外50 mm或75 mm延伸长度的大部分应用。EM1和EM2标准测力测头模块可以使用以下范围的测针:EM1标准测力测头模块可以使用以下范围的测针: (1)不超过50 mm长的直测针(2)星形和曲柄式测针,偏置不超过20 mm2.雷尼绍TP200详细介绍: TP200具有模块交换功能的超小型测头,它使用应变片机构,比机械结构式触发测头的寿命更长、精度更高。TP200系统组件包括:(1)TP200或TP200B测头本体(TP200B为另一款,允许更大的振动公差)(2)TP200测针模块 — 选择固定过行程测力:SF(标准测力)或LF(低测力)(3)PI 200-3测头接口 SCR200测针交换架(4)还有一种EO模块(长过行程),过行程测力与SF相同,但工作范围更大,并在测头Z轴方向提供保护。特性与优点:(1)应变片技术具有无可比拟的重复性和精确的三维形状测量(2)零复位误差(3)无各向同性影响(4)六向测量能力(5)测针测量距离达100 mm(GF测针)(6)快速测头模块交换,无需重新标定测尖(7)寿命 > 1000万次触发TP200 / TP200B测头本体TP200采用微应变片传感器,实现优异的重复性和精确的三维形状测量,即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性,并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件,确保了在数百万次触发中的可靠操作。TP200B采用的技术与TP200相同,但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。请注意:不推荐TP200B配用LF模块或曲柄式/星形测针。TP200测针模块测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上,具有快速测针交换功能和测头过行程保护功能。有三种测针模块可供选择,具有两种不同的过行程测力SCR200交换架SCR200可以高速自动交换多达六个TP200测针模块。SCR200由独立的测头接口 — PI 200-3供电,并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件,每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。3.TP20 与TP200对比表格:来源:山涧果子

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