平面度在尺寸链计算中的叠加

平面度是结构设计中常用到的形状公差，它代表一个平面相对于理想平面允许的偏差范围，它的公差带为平行于理想平面的两个虚拟平面之间的距离。表示符号为“”。原则上当被测表面有尺寸时，平面度公差应小于尺寸公差；但当尺寸上有独立符号时，平面度公差可大于尺寸公差。

    图1

         图2

图1表示表面必须位于距离为公差值0.1mm的两平行平面内；图2表示表面在任意100x100mm的范围内必须位于距离为公差值0.1mm的两平行平面内。

平面度在尺寸链中的叠加

在实际的装配中两个接触表面不可能是理想的平面接触，而是像下图所示的凹凸面有一定的交叉。这就需要我们在尺寸链计算中对平面度进行累积处理。

平面度在尺寸链叠加中的处理原则如下：

图3 平面度处理原则

在DCC尺寸链计算中通常作为一个反向的形位公差链环来表示这种凹凸面配合引起的公差变动。如下面的示例：求两零件表面A和D配合后组件的外表面总长度？

 尺寸链图如下：

极值法计算结果：

概率法计算结果

仿真法计算结果：

经验分享：对于与性能质量关系不大的表面贴合通常平面度的影响可以忽略不记，不做计算。但是在精密配合且对最终的质量性能指标影响较大时，如光学仪器，医疗器械，芯片级产品做尺寸链计算必须考虑平面度的综合影响。