许多参考书或者论文都已经对等张力封头的优缺点进行描述了,我就不再赘述了。
今天讲一点不一样的观点,对于学过过程设备设计的小伙伴来说,一定见过下面这个图。
可以知道在直径不变的条件下,赤道处的环向薄膜应力随着球变扁(即a/b增大),开始是逐渐减少,当a/b超过1.414后,赤道处的环向薄膜应力变为负值,即成为环向薄膜压缩应力,压缩应力容易造成内胆塌缩。
而等张力曲线是超过1.414的,所以它的封头顶点的薄膜应力要大于椭圆封头(1.414),并且在赤道位置存在薄膜压缩应力,这是不利的因素。
1.其实根据相关研究等张力封头,椭圆封头最后的爆破压力都差不多,但是这个位置,我认为等张力封头是对疲劳有相关影响的,因为这个位置等张力封头在筒体过度位置的薄膜应力是压缩应力,也就是说在压降时候,这个位置的应力要比等椭圆封头的应力大,而大的后果就是疲劳性能的下降。
2.做过工艺的应该清楚,在封头缠绕过程中,形状突变,缠绕张力,树脂含量,缠绕轨迹偏离,纤维发挥强度下降,都是造成气瓶先从封头爆破的原因之一。