案例1:封装芯片散热仿真分析
模型建立:
图1:仿真环境和仿真模型
图2:散热盖
热阻计算
1)封装的热阻Rja,表示芯片的节点与外界空气的热阻,单位为℃/W。热阻Rja的大小,通常 用来判断芯片散热性能的好坏。
2)芯片热阻Rja的计算公式:Rja=(Tj-Ta)/P 其中,Rja为芯片节点至环境空气的热阻,Tj为芯片Die的最高温度,Ta为环境的空气温度, P为芯片Die的热耗(W)
图3 Tj 、Ta测试点示意图
仿真结果:
1. 散热盖+环境温度XX℃+TIM热导率XX W/m-k
图4 芯片温度云图
图5 截面温度云图
从温度分布云图可以看出:当芯片功耗为XX W时, 最高结温主要集中在芯片处, DIE的最高结温为218.6℃ ,热阻值为: Rja=(Tj-Ta)/P=11.7℃ /W。
不同条件下芯片的结温和热阻结果
结果分析:
(1)从仿真结果看,采用不同的散热方案,芯片最大结温均太高,芯片易损坏;
(2) 根据JEDEC标准,采用散热盖方案,芯片热阻在合理范围内,而采用散热铜 块方案,芯片热阻偏高
案例2:SiP热仿真分析
模型建立:
仿真结果:
图 芯片温度云图
图 截面温度云图
热阻计算(Rjb)
图 Rjb测试示意图
图 芯片温度云图
从温度分布云图可以看出:当芯片功耗为xxW时, 最高结温主要集中在芯片处, DIE的最高结温为57.5℃ ,热阻值为: Rjb=(Tj-Tb)/P=5.4℃ /W。
从温度分布云图可以看出:当芯片功耗为xxW时, 最高结温主要集中在芯片处, DIE的最高结温为68.6℃ ,热阻值为: Rjc=(Tj-Tc)/P=2.03℃ /W。
结果分析:从仿真结果看,环境温度XX ℃ ,Rja为13 ℃/W , Rjb为5.4℃/W , Rjc为 2.03℃/W 。热阻值较小,满足设计要求。
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