三坐标检测之雷尼绍测头（传感器）SP25扫描测头
三坐标检测之雷尼绍测头（传感器）TP200测力 区分及维护保养
测座、测头系统是数据采集的传感器系统。
零件扫描，是指用测头在零件上通过不同的触测方式，采集零件表面数据信息,用于分析或 CAD 建模。
在进行零件扫描时数据的采集方式,由所使用的测头类型来决定。
对于 SP25这类模拟测头来说，在进行数据扫描时测头始终接触零件表面，软件控制采点，采点密度由扫描速度和采点密度所决定。相对于触发扫描而言，这种扫描的效率要高。
测头部分是测量机的重要部件，测头根据其功能有：触发式、扫描式、非接触式（激光、光学）等。触发式测头是使用最多的一种测头，其工作原理是一个高灵敏的开关式传感器。当测针与零件产生接触而产生角度变化时，发出一个开关信号。这个信号传送到控制系统后，控制系统对此刻的光栅计数器中的数据锁存，经处理后传送给测量软件，表示测量了一个点。
扫描式测头有两种工作模式：一种是触发式模式，一种是扫描式模式。扫描测头本身具有三个相互垂直的距离传感器，可以感觉到与零件接触的程度和矢量方向，这些数据作为测量机的控制分量，控制测量机的运动轨迹。扫描测头在与零件表面接触、运动过程中定时发出采点信号，采集光栅数据，并可以根据设置的原则过滤粗大误差，称为“扫描”。扫描测头也可以触发方式工作，这种方式是高精度的方式，与触发式测头的工作原理不同的是它采用回退触发的方法。
扫描式测头
扫描测头每秒能够采集几百个表面点，可以测量轮廓、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点。
SP25M是世界上最小型的多用途扫描测头系统。
该类测头属于高分辨率测头，寿命长，扫描速度快，动态特性好。
SP25M由两个传感器组成，包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）中任意选择一个，与转接模块（与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容）进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。
SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有极佳的测触能力，便于检测各种零件特征。
扫描测头的主要误差：在扫描过程中，测头在大多数情况下总是沿着曲面表面运动，即使速度的大小不变亦存在着运动方向的改变，因而总存在加速度及惯性力，使得测量机发生变形，测头也在变负荷下工作，由此而导致测量的误差。
优 势：
1：采点率高，所以适于形状、轮廓、曲线、曲面等需要多数据元素的测量；
2：高密度采点保证了良好的重复性、再现性；
3：更高级的数据处理能力；
5 : 高精度测量：扫描测头对离散点测量是匀速或恒测力采点，其测点精度可以更高；由于扫描测头可以直接判断接触点的法矢，对于要求严格定位、定向测量的场合，扫描测头对离散点的测量也具有优势；
劣 势：
1：比触发测头复杂；
2：对离散点的测量较触发测头为慢；
3：高速扫描时由于加速度而引起的动态误差很大，不可忽略，必须加以补偿；
4：测球的磨损必须注意。
